波长色散X射线荧光分析的新发展-现代科学仪器.PDFVIP

波长色散X射线荧光分析的新发展 安 国玉 (岛津(香港)有限公司北京代表处 北 京 l00020) 摘 要 论述 了波长色散x射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上 高精度、高稳定性的固有特点之外，在进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析范围；开拓微区面分布的元素 成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别 是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展 状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法 (FP法) 目前发展状况的介绍。 关键词 波长色散x射线荧光分析；微 区面分布的元素成像分析；高级次谱线分析方法；薄膜分析 ；无标样分 析的基本参数 法 中图分类号TH74 DevelopmentofW avelengthDispersiveX-rayFluorescenceAnalysis AnGuoyu (Shimadzu(HongKong)Ltd．，BeijingOffice．，Beijing100020，China) AbstractItdiscussedthedevelopmentsituationofwavelenghtdispersiveX—rayfluorescence(WD—XRF)analyticdevice． ExcepthteWD—XRFdevelopscontinuouslyhtefeatureofhighprecisionandstabilityfornormalnadmicrocontentselement， itsna alyticalrangehasexpandedtotraceelement．Toovercomehteweakpointsoflightandmiddle—heavyelementalnaalytic， ithasresearchedhtenewesthighorderspectrum na alyticmehtod．Themicro—raeaelementaldisrtibutionimageanalysishave beendeveloped．Tosuitednew materialna dnnaometerscaleespecially，htinfilm na alysishasbeenprogressedinhtecommer— cialequipmentandapparatus．M eanwhile，thispaperhasbrieflyintroducedthedevelopingsituationoftheFundamental Praameter(FP)mehtodwhichquantitativeanalysiswihtoutstandradsamples． KeywordsWavelenghtdispersiveX—rayfluorescence(WD—XRF)；Micro—raeaelementaldistributionimageanalysis (image—XRF，iXRF)；highorderspectrumanalysismethod；thinfilmanalysis；fundamentalparameter(FP)mehtodwhich quna titativeanalysiswihtoutstandardsam 1 引 言 较传统3KW X射线管，对于19K~92U元素范围的重元 素 ，提高灵敏度30％以上 ，对于4Be-17C1元素范围的 在新的世纪，分析仪器为了适应新的科学研究领 轻元素，提高灵敏度 70％以上 1【]。特别对钢铁工业的 域的要求，在不断地进一步发展。波长色散x射线荧 微量S分析，石化工业的微量C1分析等方