多模光纤光纤特性测试环形通量和发射状况考虑因素-ViaviSolutions.PDFVIP

多模光纤 光纤特性测试 环形通量和发射状况 考虑因素 简介 局域网目前的通信数据率介于 10/100 Mbps （对于以太网）和 1 Gbps （在光纤分布式数据接口 (FDDI) 或千兆以太网中）之间。对基于互联网协议 (IP) 的服务（例如音频、视频和数据）的需求越来越高， 这要求更高的网速和更大的带宽，并推动着 10 千兆以太网在企业网络中的应用。 在这种背景下，多模光缆的光损耗预算需要准确的测量和可重复性，特别是在它趋于达到确保所需带宽的阈值时。 多模光纤中的损耗和带宽测量主要取决于用于测量的光源的发射状况。新的标准为测试设备制造商提供了一些指南，以使光损耗预算的测量变得可重复， 而不管使用哪种测试设备。 本文将说明多模光纤中的发射状况，以及它们对光损耗测量的影响。第二部分专门说明相关的行业标准及其对光测试设备的影响。 应用指南 多模光纤 多模光纤的纤芯远大于单模光纤（50、62.5 µm 甚至更大），这使光能够通过不同的路径（称为模式）传输。 多模光纤的尺寸 多模光纤的侧视图 发射状况 发射状况对应于在测量光纤衰减时光功率如何进入到光纤纤芯中。 理想的发射状况应出现在光分布于整个光纤纤芯时。实际上，多模光纤发射状况的特性通常被描述为未填满或填充过满。 在未填满的状况下多模光纤中的光传输 如果大部分的光功率均集中在光纤中心处，该特性被描述为未填满，这种状况出现在发射光斑尺寸和角分布小于光纤纤芯时（例如，在光源为激光或虚 拟腔面发射激光 [VCSEL] 时）。 在填充过满的状况下多模光纤中的光传输 填充过满的发射状况出现在发射光斑尺寸和角分布大于光纤纤芯时（例如，在光源为发光二极管 [LED] 时）。落在光纤纤芯之外的入射光和角度大于光 纤纤芯可接受角度的光均会丢失。 光源影响衰减的测量。因此，未填满光纤的光源将产生低于实际值的衰减值，而将光纤填充过满的光源将产生高于实际值的衰减值。 2 多模光纤特性描述环形通量和发射状况考虑因素 未填满/填充过满 — 哪个最好？ 未填满或填充过满都不是最好的，因为两者都会导致测量变化。 在允许的损耗预算与预期带宽相比超大时，测量变化并非至关重要。但是，在损耗预算接近其极限时，务必要了解变化范围。在这种情况下，50% 的 变化对于网络认证可能极为重要，因而需要精细地进行测量。 国际电工委员会 (IEC) 61280-4-1 提供了如何确保衰减变化保持在 ±10% 之内的指导。 通过在现场使用符合 IEC 61280-4-1 的测试设备，可确保衰减测量的变化在不同的测试设备中小于 ±10%（对于 1 dB 的损耗）和 ±0.07 dB （对于 1 dB 的损耗）。 环形通量 2009 年 6 月颁布的 IEC 61280-4-1 Ed2 标准描述了一个新的参数，即环形通量 (EF)，它与光纤纤芯中的功率分布以及发射光斑尺寸（半径）和角分布 相关。 EF 对应于光纤纤芯给定半径处的传输功率与总注入功率之间的比率。例如，下图描述了半径为 15 µm 处（浅蓝色）的传输功率。15 µm 处的 EF 值等 于在该中心部分传输的光量与射入整个纤芯（黄色圆形）的总光量之间的比率： 纤芯直径为 50 µm 的光纤中 15 µm 半径处的 EF 值图示 3 多模光纤特性描述环形通量和发射状况考虑因素 IEC 61280-4-1 标准 IEC 61280-4-1 标准的建议建立在以下基础上：在光纤纤芯的四个预定义半径（10、15、20 和 22 µm）处定义的以及为每个波长（850 和 1 300 nm ） 定义的 EF 值上下边界。 直径为 50 µm 的纤芯的发光纤芯 现场解决方案 IEC 61280-4-1 要求从发射光缆的末端进入的光符合建议的 EF 边界。 接受测试的光纤 发射光缆