数电实验(B310).docx

实验一 组合逻辑电路 一、实验目的 1．掌握组合逻辑电路的功能测试。 2．验证半加器和全加器的逻辑功能。 3．学会二进制数的运算规律。 二、实验所用仪器和仪表 1．二输入四与非门74LS00 3. 数字万用表（DT9106） 2．二输入四异或门74LS86 三、实验内容 1．组合逻辑电路的功能测试 用2片74LS00组成图2-1逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号和引脚号。 图中A、B、C、接电平开关，Y1、Y2接电平指示灯（LED）。 按表2-1要求，改变A、B、C的状态,填表并写出Y1、Y2的逻辑表达式。 表2-1 将运算结果与实验结果进行比较。 输 入输 出ABCY1Y2000001011111110100101010 2．测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Cn上是A、B相与。 Sn=Ai⊕Bi Cn=Ai?Bi 其中⊕代表半加 故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成。如图2-2 在实验箱上用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)按图2-2接电路。 Ai、Bi接电平开关，Sn、Cn接电平指示灯。 (2)按表2-2要求改变Ai 、Bi状态，将测试结果填入表2-2中。 表2-2 输入端Ai0101Bi0011输出端SnCn 3．测试全加器的逻辑功能 写出图2-3电路的逻辑表达式。 根据逻辑表达式列出真值表。 根据真值表画出Sn、Cn的卡诺图. 按原理图接电路并测试，填写表2-3各点状态。 Cn S n 表2-3 AiBiCi-1YSiCi000001010011100101110111 四、实验报告 1．整理实验数据、图表，并对实验结果进行分析。 2．总结组合逻辑电路的分析方法。 实验二 集成计数器 一、实验目的 1．掌握计数器74LS163功能。 2、掌握计数器的联级方法。 3、熟悉数码管的使用。 二、实验说明 计数器器件是应用广泛的器件之一，它有很多型号，各自完成不同的功能。本实验选用74LS163做实验用器件。74LS163是同步四位二进制计数器（同步清除）。当清除端（）为低电平时，在时钟端（CP）上升沿的作用下，即可完成清除功能。163的预置是同步的。当置入控制端（）为低电平，在 CP上升沿作用下，输出端（Q0、Q1、Q2、Q3）与数据输入端（D0、D1、D2、D3）相一致。当CP由低至高跳变或跳变前，如果计数控制端（CPP、CPT）为高电平，则LD应避免由低至高电平跳变。 74LS163的计数是同步的 ，靠CP同时加在四个触发器上而实现的。当CPP、CPT均为高电平时，在CP上升沿作用下，Q0、Q1、Q2、Q3同时变化，从而消除了异步计数器中出现的计数尖峰。 74LS163有超前进位功能。当计数溢出时，进位输出端（CO）输出一个高电平脉冲，其宽度为Q0的高电平部分。在不外加门电路的情况下，可联成N位同步计数器。 CO：进位输出端 CP：时钟端（上升沿有效） ：异步清除端（低电平有效） CTT：计数控制端 CTP： 计数控制端 D0～D3： 并行数据输入端 ：同步并行置入控制端（低平有效） Q0～Q3：输出端 三、 实验所用仪器和仪表 1．二输入四与非门74LS00 2、计数器74LS161 3． 4线-七线译码器74LS48 4．数字万用表（DT9106） 5.信号发生器（TFG2003） 6.双踪示波器（V- 252）四、 实验内容 1. 计数器芯片74LS163功能测试 完成芯片的接线，（CTT、CTP接地，时钟端CP接信号发生器；信号发生器设置为单脉冲输出）。测试74LS163的功能，将测试结果填入表5-1中。 表5-1 CTTCTP