《电子测量仪器》课件-项目7 电子元件测量仪器.pptVIP

活动5. Q表 1.测量原理 谐振法的原理：利用RLC串联 谐振电路，当信号源的频率与 回路的谐振频率相同时，电路 产生串联谐振。 2.测量方法 (1)直接法。 1)测量电容。 2）测量电感。 (2)并联替代法。 1)测量电容。 2)测量电感。 (3)串联替代法。 1)测量电容。 2)测量电感。 3.典型Q表 (1)工作原理。QBG-3型Q表由高频振荡器、RLC测量回路及输入输出指示器3部分组成。 (2)技术参数。 1)Q值测量。 Q值测量范围：10～600。 Q值测量分挡：10～100、20～300、50～600。 准确度：≤±10%或±8［Q］。 2)电感测量。 测量范围：0.1～100μH。 测量分挡：0.1～1μH、1～10μH、10～100μH、0.1～1mH、1～10mH、10～100mH。 测量准确度：≤±5%或±0.3μH。 (2)技术参数。 3)电容测量。 测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)。 电容器调节范围： 主调电容器：40～500pF 准确度：150pF以下时，准度度小于等于±1.5%；150pF以上时，准度度小于等于±1%。 微调电容器：±3pF。 准确度：±0.2pF。 4)振荡频率。 振荡频率范围：50KHz～50MHz。 (3)使用方法。 1)测量前的准备。 首先要对“定位”电压表和“Q”电压表进行机械调零，然后将“定位粗调”旋钮沿逆时针方向转到底，“定位零位校直”及“Q值零位校直”旋钮置于中间，“微调”(电容器)旋钮旋至零。其次，被测元件与接线柱之间的连线应越粗、越短越好。测量时手不要靠近被测元件，以免人体感应引起误差。仪器通电后应预热约10min。 2)线圈Q值的测量。 将被测线圈接到“Lx”接线柱上。调节“频率旋钮”及“波段开关”至测量所需的频率点。将“Q值范围”置于适当挡位。调节“定位零位校直”旋钮使“定位”电压表指示为零，调节“定位粗调”和“定位细调”旋钮使“定位”电压表的指针指到“Q×1”处。调整主调电容度盘(即“Q”电压表右边的“C／L”度盘)到远离谐振点，再调节“Q值零位校直”使Q表的指针指在零点上，最后调节主调电容度盘和“微调”旋钮使回路谐振。此时Q表指示最大，其示值即为被测线圈的Q值。 3)线圈电感量的测量。 首先估计一下被测线圈的电感值，在“f、L对照表”上找出对应的频率，再调节“波段开关”及“频率旋钮”至这一频率值。将“微调”置于零点，调节主调电容度盘使Q表指示最大。此时，从主调电容度盘上读出的电感值乘以“f、L对照表”中的倍率，即为被测线圈的电感量。 4)电容量的测量。 小于460pF电容的测量。 大于460pF电容的测量。 项目习题 1.半导体管特性图示仪由哪几个部分组成？ 2.简述万用电桥的工作原理及测量电阻的方法。 3.简述Q表的各部分组成的作用。 4.简述Q表直接法测量电容的方法。 5.简述麦克斯韦-文氏电桥的平衡条件。 项目7 电子元件测量仪器 1 2 3 电子元件特性及参数测量仪器 集总参数元件测量仪器 项目习题 下一页 返回 任务1 电子元件特性及参数测量仪器 活动1. 三极管特性曲线的测量 三极管特性曲线是指三极管各个电极的电压-电流之间或者电流-电流之间的关系曲线。 活动2. 半导体管特性图示仪 1.组成原理 (1)基极阶梯信号源。 阶梯信号源可提供不同极性、不同大小的阶梯信号，用以产生阶梯电流或阶梯电压，供测试不同类型的半导体分立器件时采用。测试时，阶梯信号源为被测半导体分立器件提供偏置。阶梯信号源内设有调零电位器，调整它可保证阶梯电压的起始级为零电平。 (2)集电极扫描电压发生器。 集电极扫描电压发生器用以供给所需的集电极扫描电压。 (3)示波器。用于显示晶体管的特性曲线，包括X放大器、Y放大器及示波管。 (4)开关及附属电路。 1）极性开关。包括基极阶梯信号源和集电极扫描电压发生器的正、负极性选择开关，以适应不同类型晶体管的测试要求。 2）X轴、Y轴选择开关。把不同信号接至X放大器或Y放大器。 3）零电压、零电流开关。可使基极接地或基极开路。 4）灵敏度校准电压。提供校准电压，用于对刻度进行校正 2.测量原理 (1)二极管特性曲线的测量。要测量二极管的正向特性就加正极性扫描电压，测量反向特性就加负极性扫描电压，不必使用阶梯信号。将集电极电压接至X轴，取样电压接至Y轴，即可显示相应的特性曲线。 (2)三极管输出特性曲线的测试。三极管输出特性曲线及测试原理在前面已经介绍过，这里不再赘述。 (3)三极管输入特性曲线的测试。 三极管输