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ICP_0ES信号漂移的时间函数校正研究
第35卷第2期 中国测试 V01.35 N0.2
2009年 3月 CHINA MEASUREMENT 1EST Mar.20o9
ICP—OES信号漂移的时间函数校正研究
李海峰
(中国计量科学研究院,北京 100013)
摘 要:通过建立漂移与时间的线性或非线性函数关系,可对测量数据进行合理校正,提高分析测试的准确度
和精密度 。结果表明,校正函数与谱线选择有关,通过本方法校正可提高分析测试的精密度约 l0倍,达到
0.07% 0.09%。通过方法验证,表明预测值与实测值基本一致 ,应用该方法是可行的。该方法可对大批量数据进行
快速、方便的漂移校正,有效提高分析测试的准确度和精密度。
关键词:标准物质;内标;仪器分析;电感耦合等离子体发射光谱仪;汞
中图分类号:TP207.1:ⅡI744.1 文献标识码 :A 文章编号:1674-5124(2009)02--0O11-03
Studyon timefunction revision of ICP-OES signaldrift
LIHai-feng
(NationalInstituteofMetrology,~ijins100013,China)
Abstract:The~nearornon-linearfunctional formulaWaSused tocorrectdatareasonably to increase accuracy and
precision.1rIleresults show that也eformula coir~latewith analysis line.The accuracywasabout0.07%-4).o9%,
10-fold or so increased.Through validating the mehtod,hte data measured Was coincidde wiht htatpredictde ,
which showde htathtis metllod Was ~asible in driftcorrection.Th us。 this mehtod can be applide ot analysis
amoun~ ofdam,nicreasinganalysisaccuracy andprecision.
Key words:Certifide referencematerials;Internal standard;Instrumentna alysis;ICp-OES;Mercury
1 引 言 标法、单点法、连续本底校正嗍等。内标法是补偿易
电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP—OES)是 目 电离元素引起的非光谱干扰的方法之一,可同时对
前应用广泛,研究比较深入的一类仪器 【,一个常 仪器漂移和基体干扰进行校正[9-tol,但过程烦琐,对
见问题是仪器的漂移。从概念讲,漂移是指基线或 操作的要求很高。此外,内标元素与待测元素毕竟
基流朝某一个方向缓慢变化的现象4【】。对发射光谱 不同,激发电离过程中谱线强度和影响因素各异,
仪,漂移一般包括了背景噪声以及信号的变化或强 很多方面还解释不清。单点法可以获得满意的结果,
度比的变化。温度、电源及射频、氩气、冷却水、峰位 但工作量较大 。有报道将 内标法与 DCS(Drift
置、背景、稳定时间、积分时间等变动都会引起仪器 CorrectionStandards) 镞用进行控制咖。美国NIsT
信号的变化和漂移 ,在某种程度上仪器的漂移是很 (NationalInstituteofStandardsnadTechnology)Salit
难彻底消除的,仪器分析技术诞生的同时漂移就
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