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大孔径空间探测系统的缺陷分布分析
42 传感器与微系统(TransducerandMicrosystemTechnologies) 2012年 第31卷 第 1期
大孔径空间探测系统的缺陷分布分析
王忠生 一,李 昆 ,张学军
(1.中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033;
2.中国科学院 研究生院,北京 100039;3.哈尔滨工程大学 理学院,黑龙江 哈尔滨 150001)
摘 要:针对空间光学成像探测系统的LI径越来越大,在加工中容易产生局部缺陷的问题,分析了局部缺
陷分布位置对于光学系统的影响。基于成像光学系统的调制传递函数给出了缺陷位置分布对空间频率的
影响的理论分析。利用Zemax和Matlab软件对一个实际缺陷的调制传递函数特性进行了仿真研究,结果
表明:在光学系统中有效避免了局部缺陷对高频的不利影响,可使截止频率提高5%。
关键词 :空间;光学成像探测 ;局部缺陷;调制传递函数;截止频率
中图分类号:TH743 文献标识码:A 文章编号:1000--9787(2012)01-0042-03
Analysis0fdefectdistributionin largeaperturespatial
rem 0te sensing system
WANGZhong.sheng .LIKun。.ZHANGXue-jun
(1.ChangchunInstituteofOptics,FineMechanicsandPhysics,ChineseAcademyofSciences,Changchun130033,China;
2.GraduateSchoolofChineseAcademyofSciences,Beijing100039,China;
3.SchoolofScience,HarbinEngineeringUniversity,Harbin150001,China)
Abstract:Theape~ureofopticalimagingdetectingsystem islargerandlarger,SOlocaldefectsismorelikelyto
occurduringtheopticalmanufacturing.Influenceofpositionoflocaldefectsdistributionontheopticalsystem is
analyzed.Modulationtransferfunction(MTF)basedonimagingopticalsystem,theeffectoftheposition
distributionofdefectson spacial~equencyisanalyzed theoretically.Theprope~y ofMTF influenceofareal
defectisanalyzedbyZemaxandMatlab.Resultsindicatethattheadverseeffectofdefectsonhigh~equency is
avoided.thecutoff~equencyisincreased5% .
Keywords:spatial;opticalimagingdetecting;localdefect;modulationtransferfunction;cutoff~equency
0 引 言 制造、支撑形变等等都影响着光学系统LI径 的进一步增
随着小卫星、天基检测的发展,为了实现对地面 目标更 加f2I。随着光学系统孔径的增大在光学制造加工 中更容
好地观察,对空间高分辨力光学系统的要求越来越高,需要 易产生局部缺陷,由于光学加工中所引起的局部缺陷没有
进一步提高光学系统的地面分辨率。空间探测光学系统的
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