基于Biogeography的SoC测试Wrapper扫描链设计算法.pdfVIP

学兔兔 第33卷 第12期 仪 器 仪 表 学 报 V0l_33 No．12 2012年 12月 Chinese Journal of Scientific Instrument Dec．2012 基于Biogeography的SoC测试Wrapper扫描链 设计算法术 朱爱军 ，李 智 ，许川佩 ，胡 聪 ，牛军浩。 (1西安电子科技大学机电工程学院 西安 710071； 2桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 桂林 541004) 摘 要：基于IP(intellectual property)核的系统级芯片的测试已成为SoC(system on chip)发展中的瓶颈，提出了一种采用BBO (biogeography based optimization)算法的Wrapper扫描链设计方法，使得Wrapper扫描链均衡化，从而达到IP核测试时间最小化 的目的。本算法基于群体智能，通过实施迁徙操作和变异操作，实现Wrapper扫描链均衡化设计。本文以ITC02 Test bench． marks中的典型IP核为实验对象，实验结果表明本算法相比BFD(best fit decrease)等算法，能够进一步缩短Wrapper扫描链，从 而缩短IP核测试时间。 关键词：生物地理学；wrapper扫描链；SoC测试 中图分类号：TP391．72 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．30 Wrapper scan chain design algorithm for SoC test based on Biogeography optimization Zhu Aijun ，Li Zhi ，Xu Chuanpei ，Hu Cong ，Niu Junhao (J School of Mechano—Electronic Engineering，Xidian University，Xi’an 710071，China； 2 School of Electronic Engineering and Automation，Guilin University of Electronic Technology，Guilin 541004，China) Abstract：SoC test based on intellectual property(IP)core has become a bottleneck of system on chip(SoC)develop— ment．This paper proposes a biogeography based optimization(BBO)algorithm for wrapper scan chain design，which can make wrapper scan chain equalized，SO as to achieve the purpose of the minimization of IP core test time ． The algorithm is based on swaYin intelligence；and can achieve the equalization of wrapper scan chain design through the implementa—