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好鬻乸 多功能校验仪校准TC及RTD 通过优化环路校准测量系统，使其更好地支持温度检测元件的独有特征，能够大幅提高性能。所有温度探头及其检测元件都是独一无二的，材料、结构、用途或者使用环境均各有不同。这种独特性贯穿于传感器的整个使用寿命期间，表现形式为机械冲击和振动引起的漂移，或者暴露于被测材料时污染引起的漂移。只有通过定期检定，才能适应这些差异和变化，提高总体测量性能。 在许多工业和商业过程中，温度的角色非常重要。例如医药公司的灭菌、航空航天行业为确保最佳强度而进行的金属热处理、冷库中的温度检定，以及大气和海洋研究。在所有温度测量应用中，传感器对结果的影响非常大；遗憾的是，在很多测量中，没有通过优化系统来获得温度传感器的最佳性能。 大多数过程温度测量是通过连接至变送器的检测元件实现的。图1所示为常见配置的示意图。 在许多应用中，往往独立检定测量系统的检测元件，但这样往往忽略了将系统作为一个整体能够明显提高性能。独立检定或校准检测元件的主要原因之一是这样做的效率更高。利用电子热电偶(TC)或电阻温度检测器(RTD)模拟器，可简便、快捷地检定测量组件。该方法不检定相关温度探头的性能，而是认为所有探头完全相同并严格遵守一定的标准。在实际应用中，没有两个探头是完全相同的，它们全部会偏离理想标准，并且其特征随时间和使用发生变化。充分理解探头如何偏离理想标准，用户即能够优化测量系统，实现最佳性能。 系统准确度比较：使用Pt100 (IEC751) RTD测量150 °C，变送器跨距为0至200 °C标准RTD准确度特征化RTD准确度Rosemount 644H型± 0.15 °CRosemount 644H型± 0.15 °C标准RTD± 1.05 °C匹配(被校准) RTD± 0.18 °C总系统± 1.06 °C总系统± 0.23 °C图2. Rosemount Inc.以表1为例，给出了关于644H型智能温度变送器可能实现的性能改善的信息。为实现这一性能改善，为Rosemount 644H提供信息(Callendar Van Dusen方程系数)，使其能够修正温度检测元件的独特性能，本例中为标准IEC751 Pt100传感器。 干井和微型恒温槽是检定温度探头及其他相关传感器的上佳选择，但是本身没有能力校准变送器的输出或读数装置，不能优化整个测量环路。为了实现并保持上述的性能改善，需要一个热源，并结合能够校准变送器和读数装置的智能电子式过程校准器。 将Fluke 754多功能校验仪文档化过程校准器的自动化和文档化功能与福禄克计量校准部的智能、高稳定度系列现场干井及微型恒温槽相结合，即能够测试整个环路。利用这种设备组合，很容易检定温度传感器和测量电路的特性。利用这些信息，即可通过调节整个环路来优化系统测量性能。以下是关于如何利用这些仪器来优化测量系统的一些例子。 通过串行RS-232接口电缆，将Fluke 754多功能校验仪连接至福禄克计量校准部干井或微型恒温槽。用户可从福禄克授权经销商购买电缆，或者直接从福禄克计量校准部代表处购买。热源连接至754压力端口，通过754 TC/RTD密钥进行访问。由于这些测试的时间较长，建议将使用的754充满电或连接电池充电器。设备连接示意图请参见图4。 在很多过程应用中，选择用于测量温度的仪器为变送器，接收温度传感器的输出，驱动连接至PLC、DCS或显示装置的4-20 mA信号。本例介绍检定性能并优化测量来改善性能的方法。 执行测试时，将RTD传感器从过程中断开，然后插入至干块校准器。将变送器的mA输出直接连接至754文档化过程校准器(见图5)。大多数应用中，该解决方案的性能足够。但如果应用中包括独特形状的传感器，可能就需要考虑使用微型恒温槽。如果需要提高热源准确度，可使用参考级温度计以及多功能校验仪F754的用户输入参数值功能。关于754型用户输入参数值功能的更多信息，请参考应用文章1263925。 连接好之后，即可获取变送器配置(如果变送器具有HART通信功能)、设置测试参数，以及将校准器配置为mA测量，干井控制作为输出参数。 按754上的HART键，使校准器获取支持HART通信的变送器的配置。下图为获取的配置信息示例。 再次按多功能校验仪F754上的HART键，将出现以下屏幕，其中包括多个选项，用于将校准器配置为正确参数。在本例中，我们将变送器配置为输出4-20mA信号，所以754的正确配置为测量mA信号并通过干井输出温度。 按754上的AS FOUND键，访问配置自动测试所需的参数。对于利用干井以升序输出50°C至150°C温度的测量系统，其典型测试配置如下图所示。 定义好测试之后，Fluke 754多功能校验仪将自动执行测试，记录输出温度、实测