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半导体制冷元件特性参数测量及选用.pdf

第38卷第10期 上海交通大学 学报 V01.38 No.10 2004年10月 JOURNAI。OFSHANGHAI UNIVERSITY JIAOTONG Oct.2004 文章编号:1006—2467(2004)10—1669—04 半导体制冷元件特性参数测量及选用 , 戴维涵, 代彦军 张鹏, 王如竹 (上海交通大学制冷与低温工程研究所,上海200030) 摘 要:提出了一种操作简便、精度好、可靠性高的半导体制冷元件特性参数测试方法,设计了专 用实验装置,通过试验对不同型号半导体制冷元件的特性参数进行了对比分析.进一步将这些元件 分别用于小型半导体冰箱进行制冷性能测试,并根据实验和理论分析结果提出了进一步提高半导 体制冷装置效率的有效途径. 关键词:半导体制冷;制冷系数;优值系数 61.92 中图分类号:TB 文献标识码:A Measurementforthe CharacteristicParametersandSelectionof ThermoelectricCoolModules ing DAIWei—han,DAI ZHANGWANGRu—zhu Yah—J“”, Peng, (Inst.of and 200030,China) RefrigerationCryogenics,ShanghaiJiaotongUniv.,Shanghai methodwith and was for Abstract:Asimple highaccuracy reliabilitydeveloped measuring good evaluating thecharacteristicof thermoelectricmodules。Atest specified intermsof parameters cooling rigdesigned theabovemethodwasconstructed,andseveral ofthermoelectricmodulesweretestedand types cooling smallthermoelectricwas utilizedinordertotestitscool— compared.Moreover,a refrigeratorparticularly forthecases different toboth and re— performance using experimental ing modules.According

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