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测量系统分析Measureme;测量系统分析的目的测量系统分析;数据的质量数据的质量取决于从处;描述测量数据质量的统计特性通常;低质量数据的原因和影响低质量数;有关测量数据的常见问题什么是测;有关测量数据的常见问题测量系统;有关测量数据的常见问题Gage;过程变差剖析长期过程变差短期抽;测量系统的规划（一）由APQP;测量系统规划（二）测量生命周期;测量系统开发检查清单的建议要素;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第1类要素：与测量系统设计和开;第2类要素：与测量系统制造有关;第2类要素：与测量系统制造有关;第2类要素：与测量系统制造有关;第2类要素：与测量系统制造有关;第3类要素：与测量系统实施有关;第3类要素：与测量系统实施有关;连续变量测量系统分析分辨率偏移;测量仪器分辨率（测量仪器的分辨;测量系统的有效分辨率（ dis;分辨率不足的表现在过程变差的S;敏感度（Sensitivity;准确度(Accuracy)准确;BIAS — 测量结果的平均值;X1=0.75mm X6=0.;准确度的问题可以通过校准来探测;作图分析;偏倚研究的分析如果偏倚在统计上;偏倚的调整如果偏倚不等于零，应;线性在量具正常工作量程内的偏倚;线性的探测可以在校准时进行 线;线性误差的原因造成线性误差的可;在一段时间内，测量结果的分布无;稳定性的判定确定参考值长期抽样;造成不稳定的可能因素（一）仪器;造成不稳定的可能因素（二）仪器;校 准对比一个已知的真实;精确性（重复性和再现性）精确性;测量系统内在的变异性基于重复测;造成重复性的可能原因零件内部（;造成重复性的可能原因（续）环境;精确度：再现性测量系统中操作员;造成再现性误差的潜在原因零件之;造成再现性误差的潜在原因（续）;造成再现性误差的潜在原因（续）;测量系统分析的准备工作确定要测;测量系统分析的两个阶段阶段一：;测量系统分析的两个阶段（续）阶;连续变理测量系统分析极差法：短;平均范围 = = (2;短期模式??习Average r;计量型数据的 均值-极差法均值;计算A测的所有样品的总平均值X;测量系统分析R=(RA+RB+;EV= Equipment V;卡尺的RR研究 Excel;StdDev Study;%ContributionSo;% RR Results;如果重复性大于再现性，原因可能;如果再现性大于重复性，原因可能;短期与长期方法的比较短期模式用;RR 对产品决策的影响下限上;RR 对过程变差计算的影响观;RR 对过程能力计算的影响7;P/T 与 %RR将测量系统;%RR = 20%%RR ;%RR = 25%%RR ;%RR = 20%%RR ;重复性和再现性在时间和量程上的;NO-GOGOErrorOpe;Go-No Go 数据模式人为;对于以“是”和“不是”为计数基;以下为判断所用的指标 有效性 ;样品大小的规定样品的选择 由专;实例: 数据表见MSA手册 记;无标题;无标题;怎样计算kappa值Kappa;试验结果的判定