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模拟电路第四章场效应管放大电路

第四章 场效应管放大电路;4.1 结型场效应管;P;2. 工作原理;vGS 对沟道的影响:;(2) VDS 对 iD 的影响 设:vGSVP且不变;∵vGD=vGS-vDS vDS ↑,vGD↓ 当 vGD=VP时, 靠近D端两边的耗尽层 相接触—预夹断。 iD达到了最大值 IDSS。 此时:vDS=vGS-VP ;4-1-2 N沟道,JFET的特性曲线;2区 :饱和区 (恒流区,线性放大区 ) 0≤ vGS Vp, vGDVp;4区:击穿区 vDS太大,致使栅漏PN结雪崩击穿,FET处于击穿状态.。场效应管一般不能工作在该区域内。;(2) 转移特性曲线 iD= f (vGS)|vDS= 常数;(3)主要参数;输出电阻: rd 输出电阻反映了vDS对 iD的影响,是输出特性上,静态工作点处切线斜率的倒数。 在饱和区内,iD随vDS改变很小,因此 rd 数值很大。 最大漏源电压:V(BR)DS 最大耗散功率: PDM;4.3 金属-氧化物-半导体场效应管;1、沟道形成原理 ① vDS=0时,vGS 的作用;vGS加大,将吸引更多??电子到衬底表面,形成自由电子的薄层——反型层。 (表层的导电类型由原来P型转化为N型) N型导电沟道形成。;② vGSVT且不变 , vDS对沟道的影响;vDS再↑, 使 vGDVT (vDSvGS-VT) 夹断点向左移动,沟道中形成高阻区,电压的增加全部降在高阻区,iD基本不变——恒流区。;3 、特性曲线;CMOS电路;4.3.2 N沟道耗尽型MOSFET;4.3.3 场效应管比较;4.4 场效应管放大电路;3 分压式自偏压电路;例;4.4.2 FET的小信号模型分析法;应用小信号模型分析FET的放大电路;源极电阻上无并联电容:;共漏极放大器 (源极跟随器);输出电阻

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