半导体数字集成电路测试技术概要(范本.pptVIP

半导体数字集成电路测试技术概要(范本.ppt

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数字类集成电路测试探讨集成電路;簡介認識半導體測試設備半導體測;認識半導體測試設備1.晶圆(W;每个die都被测试以确保它能基;測试系统用来验证一片晶圆上的某;半導體測試術語1.? DUT需;2.測試程序测试程序通常分为几;4.測試系統1.DC子系统包含;4.高速的存储器称为“patt;驱动模式和测量模式(Force;五、管脚电路管脚电路(叫Pin;第三章PMU開路短路測試 ;poweron(bs) stb;第四章 DC測試參數的方式;DC测试与隐藏电阻 ;DC参数测试-VOH/IOHV;DC参数测试-VOL/IOLV;DC参数测试-Gross ID;初次开发时,如果发现IDD测试;備註:当测试不通过的情况发生,;图.静态电流测试 阻抗计算 ?;DC参数测试-IDDQ D;图动态电流测试 阻抗计算 ??;DC参数测试- IIL / I;进行IIH测试时,首先电源端施;阻抗计算 ?????? 当管脚;集体测试法 ?????? 部分;第四章.DC参数测试- Res;输出扇出 ?????? 扇出指;TTL和CMOS电路的扇出??不;测试方法 1、? 串行/静态测;阻抗计算??? 前面说过,IO;第四章.DC参数测试- IOS;避免热切换 ?????? IO;第五章 General Tes;输入输出波形示意图X axis;第六章 AC参数的测试(时间特;有些功能强大的测试机可以直接实;当输入为input1时outp;如何用低频测试机测试高频信号测;建立时间和保持时间的概念:建立

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