连接器功能测试探究.pptVIP

連接器性能及測試;內 容 提 要;連接器常用測試規範; 產品或業界規範;連接器的主要測試項目及目的;連接器的主要測試項目及目的;連接器的主要測試項目及目的;連接器產品功能性驗證;I. EIA Standard 量測依據 : EIA-364. I-1. 測試環境需求: I-1-1. 溫度: 150C~350C. I-1-2. 濕度: 20%~80% I-1-3. 大氣壓力: 650~800mmHg I-2. 測試樣本數及測試點: I-2-1. 樣本數: 除特別規定外,其測試的樣本數參考下列規定: A. Test Group1: 4pairs. Minimum B. Test Group2~5: 2pairs. Minimum I-2-2. 測試點數: 抽測25% PER Sample,若少於25對,則全測. I-3. Precondition的插拔次數: I-3-1. 25cycles for connectors. I-3-2. 5cycles for socket I-4. 量測順序如附件:;II. HP Qualification Requirements 量測依據 : Hp A-5951-1635-1 Rev. C General Requirements. II-1. 測試環境需求: II-1-1. 溫度: 250C~300C. II-1-2. 濕度: 30%~70% II-1-3. 大氣壓力: 650~800mmHg II-2. 測試樣本數及測試點: II-2-1. 樣本數: 除特別規定外,其測試的樣本數參考下列規定: A. Test Group1: 5pairs Minimum B. Test Group2:3pairs Minimum II-2-2. 量測順序見附件:;III. Intel Qualification Requirements 量測依據 : Intel Corporation’s Socket Qualification Requirements Specification. III-1. 測試環境需求: III-1-1. 溫度: 150C~350C. III-1-2. 濕度: 20%~80% III-1-3. 大氣壓力: 650~800mmHg III-2. 測試樣本數: III-2-1 Group1~4: 8pairs III-2-2 Group5~7: 4pairs III-2-3 Group8: 2pairs III-3. 量測順序見附件:;1-1. 絕緣阻抗測試(Insulation Resistance) 1-1-1. 量測目的:評估連接器之絕緣材料在通過直流電壓后,其表 面產生漏電流狀況,以判定其絕緣程度. 1-1-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3003.1 1-1-3. 量測方法: 1-1-3-1. 測試位置為最靠近之相鄰兩端子或端子與鐵殼,如果 是同軸連接器則為內部與外部之端子. 1-1-3-2. 測試時間: 2分鐘. 1-1-3-3. 測試電壓: 500Vdc 或特別規定.;1-2. 耐電壓測試(Dielectrics Withstanding Voltage) 1-2-1. 量測目的:評估連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈衝電 壓之安全性,進而評估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間 隔是否適當. 1-2-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3001.1 1-2-3. 量測方法: 1-2-3-1. 量測點為最接近的相鄰兩端子,及shell與最接近 shel