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EBSD制样手段(氩离子精密刻蚀系统VS机械抛光VS电解抛光)

EBSD样品制备最有效的制样手段 氩离子精密刻蚀镀膜系统 EBSD技术介绍 电子背散射衍射(EBSD)技术出现于20世纪80年代末,经过十多年的发展已 成为显微组织与晶体学分析相结合的一种新的图像分析技术。 电子背散射衍射EBSD技术可以通过研究晶粒取向关系、晶界类型、再结 晶晶粒、微织构等,反应材料在凝固、形变、相变、失效破坏等过程中晶 粒是如何形核长大及晶粒间的取向转换等,可以作为技术人员提高材料性 能的理论依据,目前EBSD技术广泛应用于金属、陶瓷、地质矿物等领域。 EBSD技术介绍 背散射电子只发生在试样表层几十个纳米的深度范围,所以试样表面的残余应变 层(或称变形层、扰乱层)、氧化膜以及腐蚀坑等缺陷都会影响甚至完全抑制 EBSD 的发生,因此试样表面的制备质量很大程度上决定着EBSD的质量。与一般 的金相试样相比,一个合格的EBSD样品,要求试样表面无应力层、无氧化层、 无连续的腐蚀坑、表面起伏不能过大、表面清洁无污染。 EBSD的图像分析不但需要有很深的晶体学造诣,而且 EBSD对样品的要求很高, 初学者很难在短时间内掌握其制样工艺。 EBSD样品制备 手段 随着电子背散射技术(EBSD)的日益广泛应用,EBSD样品制备的新技术、新设备 也相继出现。样品制备技术也由传统的机械-化学综合抛光,电解抛光、丰富到FIB, 以及目前最先进应用————氩离子束精密刻蚀镀膜系统。 EBSD样品制备 手段 目前机械抛光比较常用的抛光膏硬度较大,虽然粒度可以很小,但是仍会划伤表 面,不适合硬度较小的材料。其形变应力层较大,虽然可以通过化学侵蚀的方法 在一定程度上去除表面形变层,但是对于多相材料来说,侵蚀速度的不同,会造 成材料表面凹凸不平,同时侵蚀一定程度上会加快晶界处的腐蚀速度,降低EBSD 的标定率,损失了对于晶界处的研究价值,尤其对于晶粒非常细小的材料,侵蚀 会严重丢失其取向信息。同时机械抛光时需要用水冲洗,容易造成材料氧化,不 适用于易于氧化的材料。 EBSD样品制备 手段 电解抛光是做EBSD检测时比较常用的手段,但是对于不同材料其 电解液的配方不同,同时不同尺寸、不同状态的同种材料其参数 (抛光电压、电流、时间、频率等)也各不相同,需要随时调节。 电解抛光对于样品尺寸有较多限制,面积较大时,各处电流不均匀, 使样品表面凹凸不平。电解液多为腐蚀性、易挥发的酸等化学试剂, 一方面危害操作者的健康、污染环境;另一方面,环境温度较高时, 挥发性物质置于密闭容器中,易于引发爆炸等事故。对于多相材料 来说,不同相在电解液中的腐蚀速率各不相同,容易引起材料表面 不平整,做EBSD检测时会引起信号遮挡,损失有价值的信息等,比 如硬质合金。 EBSD样品制备 手段 Gatan 氩离子束精密刻蚀镀膜系统 685.C EBSD样品制备 手段 Gatan 氩离子束精密刻蚀系统 685.C ? PECS II是一款完全独立、结构紧凑的台式设备。它采用两个宽束氩离子束对 样品表面进行抛光,去除损失层,从而得到高质量的样品,用于在SEM、光 镜或者扫描电子探针上进行成像、EDS,EBSD,CL,EBIC或者其他分析。 ? ? 这款仪器被设计为不破坏真空,不将样品新鲜表面暴露在大气中,即可对抛 光样品进行处理又可以进行镀膜处理。样品的装卸是通过一个专门设计的装 样工具在真空交换舱中完成。 ? EBSD样品制备 手段 Gatan 氩离子束精密刻蚀系统 PECS II 685 ? 两支具有更大电压范围的小型潘宁离子枪,可提供快速柔和的抛光效果。低至 100eV的离子束提供更柔和的抛削效果,用于样品的终极抛光。低能聚焦电极使 得离子束的直径在几乎整个加速电压范围内都保持一致。每个离子枪都能准确独 立地进行对中。在仪器运行过程中,离子枪的角度可随时进行调整。离子枪的气 流可在触摸屏上通过手动方式或者自动方式进行调整, 用于优化离子枪的工作 电流。 集成的10英寸彩色触摸屏计算机可对PECS II系统的所有操作参数进行完全控制。 此界面不仅可以设定所有参数并能够监控抛光过程。所有的操作参数还可以存为 配方,调用配方可获得高精度重复实验。 1. *可容纳直径32mm的大样品 2. *集抛光、刻蚀或镀膜于一身,样品刻蚀后立即镀膜,排除样品污染 3. *离子枪电压、束流、刻蚀时间及镀膜厚度可精确控制,实验重复性好 4. *具有平面和截面两种加工模式,满足不同应用需求 5. *WhisperlokTM专利技术,30s内实现样品快速更换,提高工作效能 6. *低能聚焦离子枪保证低能量下工作效率,尤其适合加工对表面损伤敏 感的样品,对EBSD和CL类等

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