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2017-04-13 发布于江苏
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DFT, ATPG, and BIST By Hsin-Po Wang hsinpo@.tw Outline The Testability Company • Traditional solutions • RTL solutions • SOC testing • Debug Diagnosis SynTest Company Confidential 2 Copyright © 2000 SynTest Technologies, Inc. The SynTest Product Family System-level Integration, The Testability Company RTL Testability BIST and BSD Analysis and Gate Level Testability Synthesis Fault Coverage Analysis, Scan Fault Simulation Enhancement Synthesis and ATPG TurboBIST TurboBIST Memory Memory TurboCheck TurboCheck TurboFault TurboDFT TurboFault TurboDFT Gate Gate TurboBSD TurboBSD TurboCheck TurboCheck TurboScan TurboBIST TurboScan TurboBIST TurboIDDQ TurboIDDQ RTL RTL Logic Logic TurboCore