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第四章 原子发射光谱分析 (Atomic Emission Spectroscopy,AES);AES特点 1)多元素检测(multi-element); 2)分析速度快: 多元素检测; 可直接进样; 固、液样品均可 3)选择性好:Nb与Ta;Zr与Ha,Rare-elements; 4)检出限低:10-0.1?g/g(?g/mL); ICP-AES可达ng/mL级; 5)准确度高:一般5-10%,ICP可达1%以下; 6) 所需试样量少; 7) 线性范围宽(linear range),4~6个数量级; 8)无法检测非金属元素:O、S、N、X(处于远紫外);P、 Se、Te-----难激发,常以原子荧光法测定) ;基本原理 1. 原子发射光谱的产生过程: 1)能量(电或热、光) 基态原子 2)外层电子(outer electron) (低能态E1 高能态E2) 3)外层电子(低能态E1 高能态E2) 4)发出特征频率(?)的光子: ?E = E2-E1 = h? =hc/? ;几个概念 激发电位(Excited potential):由低能态--高能态所需要的能量,以eV表示。每条谱线对应一激发电位。 原子线:原子外层电子的跃迁所发射的谱线,以I表示, 如Na(I) 电离电位(Ionization potential)和离子线:原子受激后得到足够能量而失去电子—电离;所需的能量称为电离电位;离子的外层电子跃迁—离子线。以II,III,IV等表 示。 ;AES 定性原理 1)处于基态的气态原子或离子吸收了一定的外界能量时,其核外电 子就从一种能量状态(基态)跃迁至另一能量状态(激发态); 2)处于激发态的原子或离子很不稳定,经约10-8秒便跃迁返回到基态,并将激发所吸收的能量以一定的电磁波辐射出来; 3)将这些电磁波按一定波长顺序排列即为原子光谱(线状光谱); 4)由于原子或离子的能级很多并且不同元素的结构是不同的,因此对特定元素的原子或离子可产生一系不同波长的特征光谱,通过识别 待测元素的特征谱线存在与否进行定性分析—定性原理。 ;AES定量原理(Quantification) 1)Boltzmann分布与谱线强度(Intensity) AES分析进行定量测量的基础就是谱线的强度特性。那么,谱线强度与待测物浓度之间到底有什么样的关系呢?; 当 Plasm 处于热力学平衡状态时,位于基态的原子数 N0 与位于激发态原子数 Ni 之间满足 Boltzmann 分布: 其中,g 为统计权重;k为Boltzmann常数(1.38?10-23J/oC): 电子在 i, j 能级间跃迁产生的谱线强度 I 与跃迁几率 A 及处于激发态的原子数 Ni 成正比,即 由于激发态原子数目较少,因此基态原子数 N0 可以近似代替原子总数 N总,并以浓度 c 代替N总: 简单地,I ? c,此式为光谱定量分析的依据。 ;更进一步,考虑到谱线的自吸效应系数 b: I = acb(Schiebe-Lomarkin公式) 取对数,上式变为: logI = blogc + loga 此式为 AES 分析的最基本的关系式。 以 logI 对 logc 作图,得校正曲线。当试样浓度高时,b1,工作曲线发生弯曲。 ;2)影响谱线强度 I 因素: 统计权重 g (weight); 跃迁几率(probability); 激发电位或激发能?E; 谱线的自吸(self-absorption)及自蚀(self-reversal); e) 激发温度 T; f) 基态原子数 N0 或浓度 c; 前三项由待测物原子自身的性质决定。 影响谱线强度及其稳定性最重要的的因素是温度T!;AES仪器 AES仪器由光源、单色系统、检测系统三部分组成。此节重点介绍光源、相板检测器及相关特性。;光源;直流电弧:接触引燃,二次电子发射放电 ;A;低压交流电弧特点: 1)蒸发温度比直流电弧略低;电弧温度比直流电弧略高; 2)电弧稳定,重现性好,适于大多数元素的定量分析; 3)放电温度较高,激发能力较强; 4)电极温度相对较低,样品蒸发能力比直流电弧差,因 而对难熔盐分析的灵敏度略差于直流电弧。 ;高压火花:高频高压引燃并放电。;电感耦合等离子体 组成:ICP 高频发生器+ 炬管 + 样品引入系统 炬管包括: 外管—冷却气,沿切线引入 中管—辅助气,点燃 ICP (点燃
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