用SYNOPSYS工具实现BIST方案.pdfVIP

下载本文档

183
0
约7.88千字
约 3页
2017-03-25 发布于广东
举报
版权申诉

用SYNOPSYS工具实现BIST方案.pdf

1、有哪些信誉好的足球投注网站（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

用SYNOPSYS工具实现BIST方案.pdf

I 用SYNOPSYS工具实现BST方案刘卓汪滢 (沈阳化工学院信息学院沈阳110142) 摘要：由于集成电路越来越复杂，集成电路的测试也越来越有挑战性。现今，数百万门级的片上系统设计要求我们有更好的测试方法。嵌入自测试成为我们测试更大更复杂的soc的一个重要方法。通过自动测试设备(ATE)，嵌入自测试能大大减少芯片的测试成本。本文简单介绍TBIST的概念和使用Synopsys工具进行BIST钡U试的流程。关键谰：集成电路片上系统可测性测试内嵌自检测 BistWnhToolsof Execute Synopsys LiuZhuo WangYing InstituteofChemical (InformationEngineeringSchool，Shenyang Technology，Shenyang,101242) Abstract：Asthe of ofICshasbecomemore complexityintegratedeircuits(ICs)hasincreased,testing multi-million additional intest require improvementsmethodology．Built-inself-test(BIST)is gatesystem-on-chip(SoC)designs for and SoC．BISTisa usedtodecreasethe oneofthemost methodology manufacturing importanttechniquestestinglargecomplex testcostassociatedwithautomatedtest describesthe ofBISTandthe equipment(ATE)．Thispaperbriefly concepts implementation flowofBISTchosen by Synopsys． Keyword：Integratedcircuits(ICs)；system-on-chip(SoC)；design-for-test(DFT)；built-inself-test(BIST)． 1前言随着集成电路技术的飞速发展，集成电路已经被广泛应用到各行各业。由以前的万门级发展到现在的百万门级，制造工艺越来越先进，同时也越来越复杂。芯片测试的难度随着就越来越大，费用也嘲1 BIST饷…·毁结构 for 越来越高，所以DFT(DesignTest，可测性设传统逻辑BIST解决方案已出现多年，但仍因为 in 计)技术受到人们的关注，尤其是BIST(Buiit 若干根本问题没有得到广泛的应用，包括： self Test，内嵌自测试)技术。本文简单讨论一 ①工具仍限定在设计流程，而不是一个综合解下怎么用SYNOPSYS的工具实现BIST方案。决方案；