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仪器设计或方法缺乏稳健性; 不同的测量方法-——设置、安装、夹紧、技术; (量具或零件)变形; 环境变化——温度、湿度、振动、清洁度; 违背假定,在应用常量上出错; 应用——零件尺寸、位置、操作者技能、疲劳、观察错误(易读性、视差)。 线性:在设备的预期操作(测量)范围内偏倚的不同。线性也可以被认为关于偏倚大小的变化。 线性误差的可能原因同稳定性 偏倚 值N 基准值 零偏倚线 观 测 值 基准值 观 测 值 基准值 观 测 值 线性—非常量偏倚 常量偏倚 值1 偏倚 零偏倚 基准值 基准值 观 测 值 | 基 准 值 基准值 正偏倚 负偏倚 观测值 观测值 七、测量系统分析 测量系统分析的目的是了解测量系统变差的原因。除了分析变差的五种类型外,还要分析测量系统的分辨力。测量系统分析的前提是被测零件不受测量改变或破坏。 测量系统分析的准备 实施研究之前的典型准备如下: 确定使用的方法。如: 通过目视观察或量具研究来确定评价人在校准或使用仪器中产生影响。 有些测量系统的再现性影响可忽略,如按按钮,打印出一个数据。 评价人的数量、样品数量及重复读数次数应预先确定。应考虑的因素: 关键尺寸需要更多的零件/试验。 零件结构大或重者可规定较少样品和较多试验。 评价人应从日常操作该仪器的人中选择。 样品的选择应具有代表性。 对于产品控制,测量结果和判断准则用于确定:“相对特性规范确定合格或不合格”(如100%检验或抽样),选择的样本(或标准)不需要覆盖整个过程范围; 对于过程控制,测量结果和判断准则用于确定:“过程稳定性、方向和符合自然过程变差”(如SPC、过程监视、能力及过程改进),样本要覆盖整个过程变差; 仪器的分辨力应至少直接读取特性的预期过程变差的1/10; 确保测量方法(如,评价人和仪器)正在测量特性的尺寸并遵守规定的测量程序。 在制定第1阶段或第2阶段试验计划时,应考虑: 评价人对测量过程有否影响? 评价人对测量设备的校准是否可能是引起变差的一个显著原因? 要求有多少样品和重复读数? 分辨力的确定 分辨力:是仪器可以探测到并如实显示的参考值的变化量,也称为可读性或分辨率。 测量系统的分辨力:是指测量系统检出并如实指出被测特性微小变化的能力。 测量系统可接受的分辨力:是能够测出过程的变差,包括特殊原因变差,图7-1过程分布的分组数(ndc)可说明分辨力的概念; 可视分辨力:测量仪器的最小增量。 建议可视分辨力应小于等于过程变差σ6倍的十分之一。即 分辨力不足可在控制图极差图(图7-2)中表现出来: 极差图控制限内,可能有1~3个极差值; 可能有≤4个极差值在控制限内,且1/4的极差值为零。 6σ 10 可视分辨力≤ 评价一个测量系统,应考虑三个基本问题: 测量系统要有足够的分辨力 测量系统在规定的时间内要保持统计稳定性 测量系统要具有线性 测量系统的分辨力 测量系统的分辨力是指测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 每个测量系统都有自己的分辨力,在分辨力范围内,该测量系统能识别零件之间的差别,但在分辨力范围内之外,该系统将无能为力。 没有一个测量系统能识别一切被测特性。 一个测量系统被选用,它一定具备有足够的分辨力。这里足够是指: 测量系统的波动比制造过程的波动小,最多为后者的1/10; 测量系统的波动小于公差限,最多为公差限的1/10。 若波动大小用各自的标准差表示,其中: σ表示测量系统的标准差 σ1表示制造过程的标准差 d表示公差限 则一个测量系统具有足够的分辨力是指: σ≤min{σ1/10,d/10} 如果测量系统没有足够的分辨力,就不能定量的表示单个零件的特性值,也不能识别制造过程所发生的波动,这时,应放弃使用该测量系统,而改用更好的测量系统,使它具有足够的分辨力。 有时使用分辨力过高的测量系统意味着浪费。 测量系统在规定的时间内要保持统计稳定性 这是一项基本要求。 评价测量系统是否保持统计稳定性可用x-R控制图。 因为测量系统可以看成一个制造(数据的)过程,因此用于判断过程稳定性的各种过程控制图都可以用来评价测量系统的稳定性。 稳定性(或漂移):是测量系统在某一段时间内,测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量总变差。 或者说是偏倚随时间的变化。 时间 参考值(基准值) 考察其稳定性具体操作如下: 选定标准件或标准样品,在选定的时间点上对其进行重复测量 作控制图 分析控制图,看有无异常现象出现 考察过程变差是否符合要求 测量系统要具有线性 测量系统的线性是指在其量程范围内,偏倚应是基准值的线性函数。 在量程较低的地方(基准值小),偏倚要小一些,在量程较高的地方
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