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[第1节绪论和组织形貌分析
铁器,水泥,钢时代,石油,信息…… 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 光通过显微镜时发生衍射,物体上一个点在成像时不是一个点,而是一个衍射光斑,可见光作为光源的显微镜,分辨率极限是0.2 μm。 若提高显微镜的分辨本领,须使用更短波长的照明源,紫外线波长200-250nm范围,分辨率可达到0.1μm,即100nm。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 X射线波长0.05~10纳米 γ射线波长<0.001纳米 直线传播,具有很强的穿透能力, 不能直接被聚焦,不适合做显微镜的照明源 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 1924年法国物理学德布罗意(DeBroglie, Louis victor 1892 – 1987)指出,微观粒子除了具有粒子性外,还具有波动性,并且能量越大,波长越短。 如果能用高能电子束代替光束,而电子束的波长远小于光束的波长,那么不就可以大大提高显微镜的分辨力了吗? Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 在20世纪20年代末,鲁斯卡(Ruska, Ernst)经过多次实验探索,利用电磁场控制电子束的运动方向,将通过样品,带有样品微观结构信息的电子束再打到荧光屏或照相底片上,形成分辨率极高的图像。 终于在1933年研制成功世界上第一台电子显微镜,开创了人类研究微观世界的新纪元。鲁斯卡因此分享了1986年的诺贝尔物理学奖。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 1952年,英国工程师Charles Oatley制造出了第一台扫描电子显微镜(SEM)。SEM主要用于观察样品的表面形貌、割裂面结构、管腔内表面的结构等。 目前扫描电子显微镜分辨率已达到1nm,是研究微观结构及性能的必要研究手段,可用于粉末、复合材料、切削表面等研究。 但电子显微镜存在着很多不足,高速电子容易透入物质深处,低速电子又容易被样品的电磁场偏折,故电子显微镜很少能对表面结构有所揭示。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 扫描隧道显微镜 (STM) 依靠“隧道效应”工作:没有镜头,使用一根探针,探针和物体之间加上电压,如果探针和物体表面很近---大约在纳米级距离上---隧道效应就会起作用。电子会穿过物体与探针之间的空隙,形成一股微弱电流,如果探针与物体距离发生变化,这股电流也会相应的改变。通过测量电流探测物体表面形状,分辨率可达到原子级别。1986年Binning和Rohrer获得诺贝尔物理学奖。 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光学显微镜 电子显微镜 扫描探针显微镜 组织形貌分析仪器发展的三个阶段 原子力显微镜 (AFM) 1986年,为了观察绝缘材料表面的原子图像,IBM的G.Binning和斯坦福大学的C.F.Quate、C.Gerber合作,发明了原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM) 一
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