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?B型显示探伤仪工作原理 ?接通电源后,同步电路触发发射电路,使探头发射超声波 ?同步电路同时还触发Y轴扫描电路,将锯齿波电压加到示波管Y轴偏转板上 ?随探头位置变化而变化的直流电压加到X轴偏转板上 ?探头接收到的回波信号经放大电路放大后,加到示波管的栅极进行扫描亮度调制 ?当探头在工件上沿一直线移动时,则示波屏上就以探头在被检材料表面上的位置和声波传播时间为直角坐标显示出图像。 ?B型显示探伤仪工作原理 ?B型显示是脉冲回波超声波平面成像的一种 ?以亮点显示接收信号,以示波屏面代表被探伤对象由探头移动线和声束所决定的截面 ?纵坐标代表声波的传播时间,横坐标代表探头的水平位置,可以显示出缺陷在横截面上的二维特征 ?B型显示探伤仪工作原理 ?在检测仪示波管荧光屏上以纵坐标显示被检材料的截面厚度和缺陷埋藏深度(以超声波传播时间为基础),以横坐标显示超声波探头在探测面上的移动位置,从而构成了被检材料的横截面图形 ?以反射回波作为辉度调制信号,呈亮点显示,示波屏上的横坐标还能反映缺陷的水平延伸情况。当探头在探测面上移动时,一旦接收到缺陷回波,则反射回波的光点聚集,利用长余辉示波管或记忆存储示波管,使显示的断面图形能以较长的时间保留在荧光屏上以便于观察和判断 ?不足:能直观地显示出探测面下的缺陷在垂直截面上的分布位置及相对形状大小、水平延伸长度等(二维图像),即能获得断面直观图,但是它无法定量地显示出回波信号的大小强弱,从而在缺陷的定量评定上存在客观困难。 ?C型显示探伤仪 ?C型显示探伤仪工作原理 ?有一深度调节门,门的前沿及宽度可调节。探头在某一部位所接收到的回波被送到接收电路去放大,但只有落在门范围内的才能作为亮度调制信号加到示波管的栅极上,并在示波屏上形成一亮点 ?亮点在屏上位置与探头在工件上的位置相对应 ?通常深度门被调到使前表面反射及后表面反射刚好被排除在外 ?当探头在工件表面按一定形式(一般采用平行扫查)移动以对整个工件表面作出扫查后,在示波屏上即可得到整个体积内缺陷或界面的俯视图 ?通过将深度门调成窄的宽度,可记录来自试件内平行扫描面的某一层中的回波,而将其它信号排除在显示之外。 ?类似X射线照相检测所获得的缺陷在探测面上的平面投影形状(二维图像),显示在存储示波器的荧光屏上,或电敏记录纸上,或计算机存储器中并可打印,能实现彩色图像显示 ?示波屏上的纵坐标与横坐标分别表示被检测面的纵坐标与横坐标,显示的结果是以反射回波作为辉度调制信号,在扫查过程中,缺陷回波显示的亮点连成了缺陷平面投影形状,可以方便地评估缺陷平面投影面积的大小,结合缺陷所在的位置,有助于判断缺陷的性质 缺点:难以确定并显示缺陷的准确埋藏深度,在实际检测时,通常采用聚焦探头(特别是点聚焦)向深度方向逐层扫描来判定缺陷的埋藏深度 新发展:使荧光屏上的回波亮点其亮度(辉度)与缺陷回波的强弱和缺陷埋藏深度联系起来,利用人眼对颜色分辨率高的特性,发展成为彩色C扫描(如用红、绿、蓝三色显示,实际上必威体育精装版型的彩色C扫描还可以使用更多颜色表示),或者采用不同的灰度等级(目前已达到八级甚至更多层级)来显示缺陷回波的强弱。 ?C型显示探伤仪 用彩色荧光屏显示,以不同颜色表示埋藏深度,可检测出缺陷的长、宽、深度。 4.6 超声波探伤仪 美国TESTEX公司储罐壁超声检测仪(多通道)获得的MA(3D)显示图形 概 述、超声场及介质的声参量介绍 超声波的传播 第四章 超声波检测 超声波在介质中传播特性 超声波换能器 超声波探伤仪 超声波检测方法 缺陷的定位、定量和定性 检测应用实例 4.7 超声波检测方法 ?接触法 ?探头与工件表面之间经一层薄的耦合剂直接接触进行探伤的方法 ?耦合剂传递超声波能量 ?直、斜探头适用 ?横波、表面波、板波 ?接触法(重点) ?无缺陷处特征: 显示始波T、底波B ?小缺陷处特征: 有缺陷处且缺陷反射声束小时,示波屏上出现始波T、缺陷波F 和底波B ?大缺陷处特征: 始波T、缺陷波F ?接触法 采用斜探头将声束倾斜入射工件探伤面进行探伤 ?无缺陷处特征: 显示始波T (声束倾斜入射至底面产生反射后,在工件内以“W”形路径传播,故没有底波出现) ?缺陷处特征: 有缺陷处且缺陷与声束垂直或倾斜角很小时,声束被反射,示波屏上出现始波T、缺陷波F ?端部特征: 始波T、端波B` ?液浸法 ?探头不直接与工件接触 ?纵波脉冲反射法 ?缺陷位置:由发射波、缺陷波和底波在时间基线上的位置,求出缺陷部位 ?缺陷大小:由缺陷波的幅度确定 ?纵波脉冲反射法 ?无缺陷:荧光屏上出现呈指数曲线的多次反射底波 ?有缺陷:声波在缺陷处衰减大,反射底波次数少 ?横波脉冲反射法—单探头法 ?横波脉冲反射法—
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