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关键词：超声波测厚仪 数字超声波测厚仪 无损检测仪 便携式超声波测厚仪 数显超声波测厚仪 超声波测厚仪,数字超声波测厚仪,无损检测仪,便携式超声波测厚仪,数显超声波测厚仪 推广页面： 进口美国Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS高级超声波测厚仪最优设备型号上海旦鼎 【产品名称】Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS高级超声波测厚仪 【产品型号】Panametrics 38DL PLUS 超声波测厚仪 高级超声波测厚仪 无损检测仪 美国泛美超声波测厚仪 数字超声波测厚仪 【高级超声波测厚仪产品特点】 PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。 38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有极佳的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。 主要特性 可与双晶和单晶探头兼容。 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。 使用双晶探头进行腐蚀测厚。 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。 内部氧化层/沉积物软件选项。 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率0.001毫米的厚度测量。 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。 厚度、声速和渡越时间测量。 差分模式和缩减率模式。 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 设计符合EN15317标准。 【高级超声波测厚仪技术参数】 显示：彩色透反VGA显示液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 检波全波：RF波、正半波、负半波 输入/输出：USB1.0从接口。RS-232有。 存储卡最大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。视频输出VGA输出标准。 内置数据记录器：数据记录器38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。容量475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形文件名称、ID编码及注释32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。文件结构9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。 报告机载：报告总结了数据统计、带有位置信息的最小值/最大值、最小值回顾、文件比较及报警报告。 软件选项 38DLP-OXIDE (U8147014)：使用编码激活的内部氧化层测量软件。 38DLP-HR (U8147015)：使用编码激活的高分辨率测量软件。 38DLP-MM (U8147016)：使用编码激活的多层测量软件。 38DLP-HP (U8147017)：使用编码激活的高穿透（低频）测量软件。 选购附件 38DLP/EW (U8778348)：3年保修。 1/2XA/E110 (U8767104)：用于E110-SB EMAT探头的滤波器适配器。 38-9F6 (U8840167)：RS-232线缆 38-C-USB-IP67 (U8800998)：USB线缆，用于符合IP67标准的密封操作。 38DLP/RFS (U8780288)：脚踏开关，厂内安装。 HPV/C (U8780124)：数字式卡尺线缆，用于在测量声速时进行厚度输入。 38DLP-V-CC (U8840172)： 数字式卡尺线缆。 38DLP/BCW/NC (U8780289)：棒材编码读取器。 EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)：VGA输出线缆。 MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD存储卡。技术规格 测量 双晶探头测量模式从激励脉冲后的精确延时到第一个回波之间的时间间隔。 穿透涂层测量模式利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚