分光光度计讲述.ppt

LAMBERT-BEER定律 A = log — = - log T = e C l = abc吸光度、透过率与浓度的关系（波长、吸收池光程一定） 单色器 样品室 UV-3150紫外可见近红外分光光度计 0度与8度的区别 测试范围：紫外-可见 紫外-可见-近红外 影响紫外仪器质量的几个重要指标 光度准确度的检查: 一般用标准滤色片或的重铬酸钾的0.005mol/L H2SO4溶液。酸性重铬酸钾溶液的标准吸收值如下：  吸 光 度  测量波长(nm) 溶液A (50mg/L K2Cr2O7) 溶液B (100mg/L K2Cr2O7) 235（谷） 0.626 ± 0.09 1.251 ± 0.019 257（峰） 0.727 ± 0.007 1.454 ± 0.015 313（谷） 0.244 ± 0.004 0.488 ± 0.007 350（峰） 0.536 ± 0.005 1.071 ± 0.011 二、杂散光定义：单色器额定通带以外的透射辐射能量与总的透射能量之比，也就是光谱通带以外“不要的”光通量就是杂散光。 杂散光是一个非常重要的关键技术指标，它是紫外/可见分光光度计分析误差的主要来源，直接限制被分析测试样品的上限。当仪器的杂散光一定时，被分析样品的浓度越大，其分析误差就越大。 杂散光的主要来源： 1、灰尘沾污光学元件。 2、光学元件被损伤。 3、准直系统内部或有关隔板边缘的反射。 4、光学系统屏蔽不好。 5、热辐射或荧光引起的二次电子反射。 6、狭逢的缺陷。 7、光学系统的像差。、 8、单色器内壁黑化处理不当。 光栅是杂散光的主要来源，占总杂散光的80%。测定方法：一般采用标准滤光片或10g/L的NaI及NaNO3水溶液。在紫外区测定220nm(NaI)或340nm(NaNO3)处的透过率%T ，在可见光区用384mg/L的KMnO4 ，测定525nm处的透过率%T 。 不同程度杂散光对比尔定律的偏离 三、噪声定义： 无样品时仪器自身的波动。 也就是说：噪声是叠加在待测量的分析信号中不需要的信号，即零信号上下波动的振幅宽度。重要性： 光度噪声影响光度测量的灵敏度（信噪比）、精密度和准确度。限制测定浓度的下限，是分析误差的主要来源。主要来源： 光学系统、光源、检测器、电子元器件及电路设计等。 噪声的测定： 在时间扫描方式下，于500nm波长处连续测量120秒钟，由所记录的吸光度—时间光谱图量出峰——峰值即为仪器的噪声。改变仪器的响应时间可改善信噪比。 四、稳定性定义： 是指不放置样品情况下，零吸收读数在一定时间内偏离的程度（1小时内仪器自身的漂移量）。影响稳定性的主要因素： 光源（氘灯：电源1%-光6.7%；钨灯：电源1%-光3.4% ） 光电倍增管(电源1%-放大后的信号12% ) 温度、环境等重要性： 同样是分析误差的主要来源。影响测定的重现性与准确度，严重甚至根本无法测定。测定方法： 在时间扫描方式下，仪器预热2h，于500nm波长处连续测量1小时，由所记录的吸光度—时间光谱图曲线的峰—峰值检查仪器的稳定性。 光谱扫描（Spectrum） 1.点下光谱扫描图标，出现光谱扫描界面。 2.点击方法按钮，出现方法设置对话框。在此可以设置扫描波长范围，仪器的最大范围为3200～190nm。可以设置扫描速度，一般可选中速（Medium）或快速（Fast）进行扫描。采样间隔表示光度计每隔多少nm读一个吸光度值，如没有特殊要求，选择自动即可。可选择是否重复扫描曲线，若重复则设置重复次数和间隔时间。 3.点击“Sample Preparation”输入样品信息。包括样品的质量、体积、稀释倍数和测量光程等。也可以输入样品的其他信息。 4.点击“Instrument Parameters（仪