电子产品可靠性设计、试验与故障分析技术培训资料.docVIP

电子产品可靠性设计、试验与故障分析技术培训 【主办单位】中国电子标准协会【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司【课程时间】2012年8月25-26日上海【课程费用】￥2800 /人（包括资料费、发票、午餐及上下午茶点等）【咨询热线】0755先生 彭小姐【报名邮箱】martin-lee@163.com【培训对象】系统总质量师、研发主管、产品质量师、设计师、工艺师、研究员，质量可靠性管理和从事电子元器件（包括集成电路）失效分析工程师 课程大纲： 一、客户要求的可靠性指标分解方法 案例:要求累积故障率的情况 案例:要求年维修率的指标分析 二、可靠性设计 ⒈ 可靠性设计的思路、设计失败的案例 ⒉ 某型计算机可靠性设计缺陷分析 ⒊ 降额设计 ⒋ 容差分析 案例:振荡器最坏情况分析法 ⒌ 边缘性能设计、案例 ⒍ 储备（冗余）设计、案例 ⒎ 潜在通路分析 案例:潜在通路； 案例:潜在时间； 案例:潜在标志； 案例:潜在指示； ⒏ 电子产品热设计 a温度对电子设备可靠性的影响 b电子设备热的来源 c热设计的目的 d热设计的程序 e热设计中元器件布局案例 f热设计中元器件的安装原则、安装失误案例 g鼓风机的选择与安装 h冷却剂流道设计 i改善热设计的方法及案例 案例:密封电子设备 案例:机载电子设备 ⒐ 防闩锁设计 a闩锁的来源 b闩锁的预防 ⒑ 案例:可维护性设计 ⒒ 软件可靠设计技巧、软件可靠设计案例 ⒓ ESD防护 a ESD损失案例 b ESD防护的实施 三、可靠性试验 ⒈ 可靠性试验及其分类 ⒉可靠性测定试验点估计、区间估计 ⒊可靠性鉴定试验 a试验大纲 b试验条件 c试验样品 d一次抽样检验方案的基本原理 e序贯截尾试验方案 f案例分析 ⒋高加速寿命试验（HALT）与高加速应力筛选 （HASS） a HALT和HASS的概念与应用范围 b高加速的基本原理 c HALT/HASS试验过程及方法 d 开展HALT和HASS的几点看法 ⒌加速寿命实验 a寿命试验的分类 b寿命试验的测试点 c寿命试验的数据处理 d加速寿命试验的理论依据 e加速应力的选择 f样品数量的选择 g激活能的计算 h双应力加速实验法 ⒍可靠性实验案例介绍 案例:已知置信度和MTBF时的实验测定 案例:已知置信度和可靠度时的实验测定 案例:案例加速寿命实验测定法 案例:可靠性鉴定实验 四、故障模式、影响及危害度分析 （FMEA） ⒈ FMEA的意义和作用、运载火箭的案例分析 ⒉ FMEA的分类（系统FMEA、设计FMEA和工艺FMEA）FMEA的实施步骤 ⒊ FMECA的标准方法 ⒋ 报警器的FMEA分析案例 ⒌ QS9000和16949的FMEA方法 ⒍ 分析案例 ⒎影响FMECA工作效果的因素 五、电子元器件的选用控制 ⒈ 元器件的质量等级 ⒉ DPA与失效分析技术 ⒊ 半导体器件质量的鉴别 六、电子元器件的主要失效模式与预防 ⒈ 半导体器件的主要失效模式与预防 ⒉ 集成电路的主要失效模式与预防 ⒊ 阻容元件的主要失效模式与预防 ⒋ 继电器的主要失效模式与预防 ⒌ 其他元器件的主要失效模式与预防授课专家：张老师 ------中国可靠性实战知名专家，高级工程师，曾在深圳某通信公司从事产品设计，曾主持低频治疗仪、通信机、日立电梯对讲系统的设计。具有丰富的硬件设计经验。1994 邀请加入中国最权威的可靠性试验室，从事电子产品测试、试验和可靠性技术研究等领域的学术带头工作。在此试验室一直从事电子元器件和设备的可靠性工作。负责了多个国家重点工程的可靠性工作，开展电子设备可靠性预计、可靠性设计、可靠性分析等工作，主持了GJB/Z299《电子设备可靠性预计手册》关键技术研究，并相继发布了A、B版。编写了《可靠性建模与分配》，《可靠性预计技术》、《可靠性设计技术》、《故障模式、效应及危害性分析（FMECA）》、《故障树分析(FTA)》、《工程用元器件质量管理》等有创新性的培训课题。 张老师是《以可靠性为中心的质量设计、分析和控制》一书的作者，是GJB/z299《电子设备可靠预计手册》、GB/T7829《故障树分析（FTA）》等标准的制订负责人。张老师具有中国质量工程师培训执教资格，是《环境试验》《电子产品可靠性与其试验》编委。 张老师具有丰富的产品设计经验和产品测试实践以及深厚的可靠性理论基础。曾为地铁2号线电源系统及科利公司完成可靠性、维修性设计建议书，为康佳、TCL、美的、科龙、电子36所、34所、54所、44所、26所进行过可靠性内训授课和咨询；为我国电子行业技术人员进行了近百次公开可靠性设计、可靠性预计、3F方法、元器件优选等方面的技术培训。应邀赴