TR8001程式发展手册.docVIP

TR8001 程式發展手冊 一﹑TR8001 電路板測試發展總覽 1.1 TR8001 發展流程圖 二﹑準備階段蒐集資料 (Test Gathering Material) 2.1 CAD Data 2.2 電路圖 2.3 BOM 2.4 IC ASIC Datasheet 蒐集 2.5空白電路板及實板 三﹑電路圖線路分析 3.1電源點設定 3.2 分線 3.3 User Relay Board使用 3.4 Buffer Board使用 3.5 On Board Programming Chip腳位選定, 四﹑治具發包 4.1繞線表格填寫 4.2 治具規格 4.3 製作規範 4.4 治具驗收表 五﹑MDA 程式發展 5.1 Open 5.2 Short 5.3 IC Clamp diode 5.4 Parallel IC 5.5 IC Open Test 六﹑MDA 程式除錯 6.1 Analog Debug 七﹑On Power Digital程式發展 7.1 ATPG (Automatic Test Program Generator) 7.2 Power ON/OFF 7.3 Discharge 7.4 Voltage Measurement 7.5 Frequence Measurement 7.6 TTL 7.7 RAM 7.6 Serial Programming 7.6.1 I2C BUS 7.6.2 Microwave-EE 7.7 OBP (On Board Programming) 7.8 Boundary-Scan 7.8 Tree Chain Test 7.11 Pin 7.12 FET 7.13 SETUP 7.14 OTHER 八﹑Digital 程式除錯 8.1 Disable IC 8.2 TTL 8.3 RAM 8.4 Serial Programming 8.5 OBP 8.6 Boundray-Scan 8.7 Tree Chain 七﹑量產微調 八﹑測試涵蓋率報告(Test Coverage Report) 第七章 Power On Digital 程式發展 7-1 Automatic Test Program Generator (ATPG) 自動測試程式產生器 (Automatic Test Program Generator, ATPG) 可以將數位 IC 的程式庫(Library)內的資料與待測版的線路資料整合分析後, 自動產生測試程式與所需的測試資料及測試分析報告資料. 下圖簡單描述 ATPG 與各個資料檔案的關係. 程式庫 測試程式 測試資料 待測版資料 分析報告 在功能表選擇Digital,Digital Test ATPG後會出現[RUN Digital Test ATPG?] 選擇[OK]會出現下面視窗. 視窗說明 : IC : 待測板IC 編號 Library : 程式庫IC名稱 Type :測試程式型態 (TTL 數位邏輯 IC , TREE Nand Tree或 XOR Tree Chain Test , MEMORY SDRAM或SRAM) Library :所使用程式庫屬於系統內建(System Lib)或由使用者自行開發(User Lib) Vectorless:非向量測試程式型態 (C Clamping Diode,P Paralle IC., I IC Open) 程式庫切換開關 User 使用程式庫 , 選擇此一選項 , 軟體會選擇 userlib 程式庫 Standard 系統內建程式庫 , 選擇此一選項 , 軟體會選擇 lib 程式庫 Edit 編輯選擇 , 選擇此一選項 , 軟體會將所選擇到的 Library ,開啟成編輯狀態. Select選擇此一選項 , 軟體會將所選擇到的 Library ,直接轉為測試資料. TTL , TREE , MEMORY ,BSCAN,OTHER 程式庫下拉式選單 , Click 右方下拉式選單,軟體會開啟所有的Libraries提供選擇. Copy : ??? Clear : 將已選擇的Library 清除 Delete : 將已選擇的Library 刪除 Analysis : 將已選擇的Library 執行線路分析,並轉成測試資料 Quit : 離開此一視窗 Board View : 待測板面板資訊 IC Info. : 待測板 IC 資訊 Test Data : ATPG 在經過線路分析後會將所選擇