电磁继电器贮存速寿命试验数据处理方法的研究.pdfVIP

河北工业大学硕十学惫论文 电磁继电器贮存加速寿命试验数据处理方法的研究 摘要 电磁继电器是一种最常见的低压电器产品，广泛地应用在国防军事与工业自动化等领域 中，其可靠性直接影响到整个系统的可靠性水平。本文所研究的产品为航天用密封式电磁继 电器，其贮存时间远远大于使用时间，所以更关心它在贮存阶段的可靠性。研究这种可靠性， 一般采用加速寿命试验的方法。 为了有效缩短试验时间，以便在较短的时间内对产品的贮存寿命进行推断及预测，这就 需要运用适当的数据处理方法对有限的试验数据进行分析，以期用来帮助推算产品的实际贮 存寿命。 本文采用一元线性回归、指数回归、加权指数回归、多项式回归(最小二乘法)和灰色 理论等五种分析方法分别对五种试验数据进行了拟合与预测。 1．阐述了每种方法的数据分析原理，并给出了五种拟合与预测模型参数的确定方法； 2．根据模型参数的求解步骤，设计了专门的数据分析软件，利用计算机辅助完成数据 处理： 3．给出了五种方法的拟合与预测结果，分析了数据处理的精度，同时针对各种方法的 预测效果作出了比较，并最终推算出试品的贮存失效期限。 的。 本课题是在河北工业大学电器研究所有关电磁继电器贮存加速寿命试验的基础上进行 的。 关键词；电磁继电器，贮存加速寿命试验，拟合与预测，一元线性回归，指数回归，加权指 数回归，多项式回归，灰色理论 THE DATA STUDYoN METHoDoF FoRTHEACCELERATEDSToRAGELIFETESTING RELAY oFELECTRoMAGNETIC ABSTRACT a ofthemostfamiliar isusedin Beingtype low-voltageapparatus，electromagneticrelay national andotherdomains of defence，militaryaffairs，automatizationwidely．111ereliability worksonthe levelofthewhole electromagneticrelay reliability systemdirectly．Theproduct studiedin thearticleis closed of is far space electromagneticrelay,itsperiodstorageby longer than the inits time．All carethe makeUSe more，we reliability moment，andusually usage storage life toresearchthe ofacceleratedtesting reliability． storage Whentheacceleratedlife of is testing finished，the