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名词解释： 晶带定律：晶带轴的晶向指数与该晶带的所有晶面的指数所对应积的和为零。 多重性因数：某种晶面的等同面数为影响衍射强度多重性因数P。 干涉面：晶面（hkl）的n级反射面（nhnknl）用（HKL）表示，称为反射面或干涉面，其中，H=nh，K=nk，L=nl。干涉面的面指数称为干涉指数。 背散射电子：被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。 二次电子：在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子。 吸收电子：被样品吸收的一部分入射电子。 透射电子：在被分析的样品很薄时，穿过薄样品的那部分电子。 特征电子：当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发状态，此时外层电子将会向内层电子跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的x射线释放出来。 俄歇电子：在入射电子激发样品的特征x射线过程中，如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以x射线的形式发射出去，而是这部分能量把空位层内的另一个电子发射出去，这个被电离出来的电子称为俄歇电子。 原子散射因数：f=Aa/Ae=一个原子中所有电子相干散射波的合成振幅/一个电子相干散射波的振幅。 系统消光：由于衍射线的相互干涉，某些方向强度将会加强，而某些方向的强度将会减弱甚至消失，这种规律习惯称为系统消光。 结构消光：当Fhkl=0时，即使满足布拉格定律，也没有衍射束产生（因为每个晶胞内原子散射波得合成振幅为0），这叫做结构消光。 吸收因数：由于试样本身对x射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为修正这一影响，须在强度公式中乘以吸收因数A（0）。 温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性遭到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而是衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响，须在积分强度公式中乘以温度因数e-2m。 衍射衬度：由于样品中不同位向的晶体的衍射条件不同而造成的衬度差别。 明场像：让透射光通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到的图像衬度的方法叫做明场成像，所得的像叫做明场像。如果使光阑孔套住，hkl斑点而把投射束挡掉可得到暗场像。 中心暗场成像：把入射电子束倾斜20角度（通过照明系统倾斜来实现），使晶粒的（hkl）晶面向处于强烈衍射面的位向，而物镜光阑仍在光轴位置。此时只有晶粒的hkl衍射束正好通过光阑孔，而透射束被挡掉，这叫做中心暗场成像。 倒易点阵：晶体点阵结构与其电子衍射斑点之间可以通过另外一个假想的点阵很好地联系起来，这就是倒易点阵。 相干散射：散射线波长等于原入射线波长，频率也等于原入射线频率，有可能互相干涉。 零层倒易面：垂直于晶带的方向，并过倒易原点的倒易阵面。 扫描电镜放大倍数M：为荧光屏上阴极射线的扫描幅度Ac与样品上同生扫描幅度As之比。 填空： 用仪器检测x射线的波长，发现其中包含两种类型的波谱：连续x射线谱和特征x射线谱。 特征谱的波长不受管电压管电流的影响，只决定于阳极靶材元素的原子序数。 莫塞莱定理√1/λ=k2(z-σ)式中k2和σ都是常数，该定律表明，阴极靶材的原子序数越大，相应于同一系的特征谱波长越短。 晶体中衍射的起源是电子相干散射，本质是大量电子散射线在空间上的衍射。 X射线在晶体中产生衍射的本质是晶体的原子产生的散射线在空间叠加的结果。 布拉格方程的基础是将衍射堪称反射但本质是衍射。 把(hkl)的n级反射看做(nh nk nl)的一线反射，如果(hkl)的面间距为d则(nh nk nl)的面间距为d/n。 只有间距大于或等于x射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 |Fhkl|2称为结构因数，它表明了单胞的衍射强度，反映了单胞中原子种类，原子数目和原子位置对(hkl)晶面衍射强度的影响。 简单点阵结构因数与HKL无关，即HKL为任意整数时均能产生衍射。 影响衍射强度的因数有：结构因数、多重性因数、吸收因数、温度因数。 电磁透镜特点：可变焦或变位率、景深大、焦距很长，这是由于小孔径角成像的结果。 X射线是一种波长很短的电磁波 入射到某物质的x射线分为穿透和吸收两部分，波长越短，穿透力越强，吸收系数下降。 X射线散射包括相干散射和非相干散射。 衍射成像三要素：峰位置、峰强度、峰宽。 当x射线照射晶体时，若要在某方向上能获得衍射力强，必须满足三个劳埃方程：在晶体中三个互相垂直的方向上相邻原子散射线的波程差为波长的整数倍。 将衍射看成反射是导出布拉格方程的基础：2dsinθ=nλ 在晶体中干涉面的划取是无限的，但并非所有的干涉面均能参加衍射，有dsinθ/2=λ/2 布拉格方程的应用分为两方面：结构分析，x射线光谱学。 衍射矢量方向为晶面法线方向，大小为晶面间距的倒数的λ倍。 X射线衍射方法：粉末法，多晶体（单晶体粉末），单色x-ray。劳埃法，精致的单晶