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基于微小电流过采样的激光光栅测试系统.pdf

2012年 仪表技术与传感器 2012 第8期 Instmment 彻d sensor No.8 Technique 基于微小电流过采样的激光光栅测试系统 黎步银,黄龙,张平川 (华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉430074) 摘要:激光光栅的质量检测是光栅生产应用中的关键环节。该测试系统设计了高精度微小电流采样电路,采用过采 样技术用AVR芯片内部10位ADc实现13位采样精度,采用窗口滤波、平均滤波进行进一步数据处理。系统提升光栅透 光率的测量相对误差至5‰以内,0级与l级光斑光强比测量相对误差至l%以内,实现了高精度激光光栅测试。 关键词:激光光栅;质量检测;微小电流;过采样;窗口滤波 中图分类号:7rP216 文献标识码:A 文章编号:1002—1841(2010)08—0035—04 Laser Test B嬲edon High·precisionG髓tingSystem LittleCurrentand OVers锄pling ⅡBu—yin,HUANGLong,ZHANGPing—chuan Sd咖e蛆d (H岫疝ongUniVersi够of Technolo野,Wuh柚430074,Chi鹏) Ab蚰mct:,111etestofl鹳er isthe intlIe of test qIl幽ty grating key production粕d印plicationgmting.The8ysteIndesi印ed limecuⅡent circuit.It toachieve13.bit witha 10-bitADcin- h沙-preci8ion s枷pling adop涮overs锄plingtechniqlle s锄pling sideAVR usedwindow and for胁herdata theIelativeenDrof MCU,aIld filteringaver{lgefiltering pmcessing.7I’hesystemiⅡlproves tolesstllan themtiooftlle 1 to 0tolessthaIl testfor 5‰,a11d gmting’s咖smittallce gradegrade 1%,implementshig}I·precision 1aser gmting. words:l船er te8t;lime Key grating;qualitycurrent;overs锄pling;willdowfiltering O引言 系统由5个主要部分组成:光源、光电探测器组、微小电流采 激光光栅在现代技术中有着广泛的应用,光栅的质量检测 样模块、』wR核心系统、人机接口,图1中虚线框表示1个模块。 在光栅生产应用中至关重要…。目前,国内专门用于检测光栅 系统采用恒流源驱动点状光斑激光器提供测试光源,激光透过光 质量的仪器少,针对生产应用厂家的实际需求,研制了激光光 栅形成衍射光斑,通过光电探测器将衍射光

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