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AlxGa0.51-xIn0.49P光学性质的研究.pdf
第 卷第 期 半 导 体 光 电
21 2 Vol . 21 No . 2
年 月
2000 4 Semiconductor O toelectronics A r . 2000
p p
文章编号: ( )
1001 - 5868 2000 02 - 0111 - 04
Al! Ga0 .51 - ! In0 .49 P 光学性质的研究
1 1 1 1 2 2 2 3
连 洁 ,张淑芝 ,卢 菲 ,魏爱俭 ,黄伯标 ,崔德良,秦晓燕 ,王海涛
( 山东大学 光电系,济南 ; 山东大学 晶体材料所,济南 ; 山东大学 环境工程系,济南 )
1. 250100 2 . 250100 3 . 250100
摘 要: 用 方法在 衬底上生长了 的本征及掺 或掺 三个样品。
M OCVD GaAs AlGaInP Si Mg
用椭偏光谱法测量了样品在室温下可见光区的光学常数,并求其介电函数的三级微商谱。用三点
比例内插法分析介电函数的三级微商谱,精确地得到样品的带隙 、 以及 以上成对结
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构跃迁的能量位置,并对其结果加以分析。同时与沟道分析等方法相结合对材料的性能进行了鉴
定。
关键词: 半导体薄膜技术;椭偏光谱;三点比例内插;能带隙
中图分类号: + ; 文献标识码:
T N304 . 2 3 T N304 . 055 A
Study on 0ptical Properties of Al! Ga0 . 51 - ! In0 . 49P
1 1 1 1 2
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LIAN Jie ZHANG Shu-zhi L U Fei WEI Ai- ian HUANG Bo-biao
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