应用阵列感应资料对复杂侵入现象的解释.pdfVIP

维普资讯 第24卷 第 4期 大庆石油地质与开发 P．G．O．D．D． 2005年8月 99 文章编号：1000—3754 (2005)04-0099-02 应用阵列感应资料对复杂侵入现象的解释 张 莉 ，孙宏智 ，张美玲 ，唐 馨 (1．大庆油 田有限责任公司 勘探部，黑龙江 大庆 163453；2．大庆石油管理局 测井公司，黑龙江 大庆 I634I2) 摘要：钻井液的侵入会使地层流体分布发生变化，所引起的电法测井响应的影响困扰着解释。由于阵 列感应资料可以提供地层 电阻率的径向变化趋势，该文针对 同一 口井同一类液体性质储层的阵列感应 测井 (HDIL)资料所呈现的完全相反 曲线数值排序现象进行深入分析 ，进一步证实了油层 中低阻环 带的存在，为进一步建立油水层的识别标准提供 了依据。 关 键 词：阵列感应测井；低 阻环带；解释 中图分类号：P631．821 文献标识码 ：A 钻井液侵入对电法测井响应的影响一直是困扰解 探测深度数 目； (z)为第 个子阵列在 z点的测 释人员的一个难题，人们一直没有间断地开展这方面 量值， =1，2，…， ， 是子阵列个数；W (z， 的研究 ¨J。钻井液侵入是在钻井 中由于钻井液 的压 )是聚焦合成到探测深度P 时，第 个子阵列的滤 力大于岩层孑L隙液体压力，钻井液在压差作用下，驱 波器，gi(P，z)为Doll几何因子， 是地层的电导 走井壁周 围岩层孑L隙中的原生液体而进入地层的过 率；z=z ～z…，是聚焦合成的窗 口范围。聚焦合 程。钻井液的侵入会使地层流体分布发生变化，而阵 成后的响应会对储层的电阻率分布给以显示，对于油 列感应测井 (HDIL)能够提供径 向上 6个不同深度 层，原状地层的电阻率要明显高于冲洗过渡带的电阻 (10in，20in，30in，60in，90in，120in) (1in= 率， (P ，z)值基本上会随着 P 的增大逐渐增 25．4mm)的电阻率 ，可以反映出这种径 向分布。文 高，形成所谓的低侵现象；对于纯水层，在泥浆矿化 献 [2]在对深侵含气储层的识别过程 中发现，含气 度远低于地层水矿化度时， (P，z)值基本上会 储层具有很丰富的过渡信息，而水层不存在过渡带， 随着P 的增大逐渐降低，形成所谓的高侵现象。 且通过理论计算证实了阵列感应曲线能够反映出含气 值得注意的是，聚焦合成处理的质量取决于式 储层中的电阻率环带。文献 [3]利用双感应资料证 (1)、 (2) 中的 h(z， )以及 gj(P，z) 的设 明了在中低孑L渗条件的含油储层中，更容易产生低阻 计 。在设计过程中，一般是使 (z， )以及 g 环带现象。本文利用大庆油 田的HDIL实际井资料， (P，z)的纵 、径向积分在z=z 一 纵向区域 以及 在流体性质为油、水的储层 中进一步证实了低阻环带 P 附近达到总响应 50％。所 以在理想情况下，合成 的存在 后的 (P ，z)值基本能够反映 ： 一Zmax纵向区 域以及P 附近径向区域内的电阻率状况。但对于实 1 阵列感应信号聚焦合成简述 际井，由于纵 、径 向流体及岩性分布较复杂，合成后 考虑到某一探测深度的阵列感应响应是由不同源 的 。(P，z)值只能反映比P 的探测深度稍短区域 距的阵列信号聚焦合成得到，用数学公式描述为 的电阻率状况 。 』 ma Op(p )=∑ ∑ (z，o-) (