13 光电效应测量普朗克常量和金属逸出功.docVIP

大连理工大学 成 绩 教师签字 大 学 物 理 实 验 报 告 院（系） 材料学院 专业 材料物理 班级 0705 姓 名 童凌炜 学号 200767025 实验台号 实验时间 2009 年 04 月 24 日，第九周，星期 五 第 5-6 节 实验名称 光电效应测量普朗克常量和金属逸出功 教师评语 实验目的与要求： 通过测量不同频率光照下光电效应的截止电压来计算普朗克常量 获得阴极材料的红限频率和逸出功 主要仪器设备： 光电效应实验仪（GGQ-50 高压汞灯， GDh-I型光电管电流测量仪） 滤光片组（通光中心波长分别为365.0nm, 404.7nm, 435.8nm, 546.1nm, 577.0nm） 圆孔光阑Φ=5mm, Φ’=10mm 微电流仪 实验原理和内容： 理想光电效应光电效应实验装置如右上图所示， 阴极K收到频率为v的单色光照射时， 将有光电子由K逸出到达阳极A， 形成回路电流I， 可以由检流计G所检测到。 通过V来监控KA两端的电压变化， 结合G所得到的电流值， 可以得到U与光电流I之间的关系， 如右下图所示。根据爱因斯坦的解释， 单色光光子的能量为E=hv， 金属中的电子吸收了光子而获得了能量， 其中除去与晶格的相互作用和克服金属表面的束缚（金属的逸出功A）外， 剩余的便是逸出光电子的动能， 显然仅仅损失了逸出功的光电子具有最大动能： 。实验中所加的光电管电压U起到协助光电流I形成的作用， 当不加电压U时， 到达阳极的光电子很少， 光电流十分微弱； 当加上正向电压时， 便有更多的光电子到达阳极， 使得I增大， 而所有的光电子都被吸引到阳极形成电流时， I到达最大值， 此时再增大U也不会改变I， 成为饱和光电流IM， 饱和光电流在光频率一定时， 与光照强度成正比。如果在光电管两极加反向电压便可以组织光电子到达阳极形成光电流， 当反向电压增大到光电流等于零时， 可知光电子的动能在电场的反向作用下消耗殆尽， 有以下关系式：， 其中Ua成为截止电压。 结合以上最大动能的表达式可知， ， 如左图做出其对应的图像， 可知直线的斜率为， 截距为。 图中斜线与x轴的交点对应的频率v0称为阴极材料的红限频率， 照射光小于这个频率时， 无法产生光电效应（入射光光子能量小于电子的逸出功）。 显然， 通过测量多组v和Ua， 便可以通过计算函数表达式而得到A、h、v0。 实验中相关影响因素的修正1， 暗电流修正暗电流指没有光照时， 由于金属表面的隧道效应、 光电管漏电、 热噪声等原因造成的由K向A逸出电子形成的电流。 由于暗电流对截止电压的影响不大， 实验中可以使用无光照测量电流的方法测出暗电流值， 在后期处理中将其剔除。2， 阳极电流修正由于KA两级距离很近， 光照时阳极的材料同样可以发生一定程度的光电效应而发射光电子， 当光电管加的是反向电压时， 就会使阳极光电子到达阴极形成阳极电流。 在U-I曲线上阳极电流的影响就是使在负向电压区的阴极电流出现负值下沉， 由于阳极光电子数目有限且相比阴极较少， 故阳极电流很快达到饱和， 可见实验中截止电压对应的实际情况是总体电流趋于反向稳定时的电压值。  步骤与操作方法： 测量各个不同波长准单色光照射下光电管的U-I’数据1.1 仪器使用前预热10分钟， 同时注意关闭光电管入射孔。1.2 微电流仪调零， 设置满度值（-100为宜）， 然后调节至10-6μA档， 电压表量程选用20V1.3 确定入射孔大小、 汞灯和光电管的距离， 并在以后的实验过程中保持不变。1.4 选择并以此切换滤光片， 开始测量。注意： 测量时正向电流不必很大， 更不需要达到到达正向饱和； 正电流区的数据采集不必很多， 而相比之下负电流区采集应当更加密集， 并需要一直采集到反向电流趋于稳定。 暗电流的测量2.1 以上五组数据全部测量完毕以后， 挡住光电管的入射孔， 测量每一组数据中各个电压值对应的暗电流i。注意： 不要让进入光电管的光通量过大而损坏光电管； 电压调节应缓慢进行， 以免损坏仪器。 数据记录与处理： 各组数据的波长， 加载电压U， 测量电流I’， 暗电流i和实际电流I如下 λ(nm) 400 U(V) -0.99 -1.09 -1.19 -1.29 -1.39 -1.49 -1.59 -2.07 -2.54 -3.00 I(E-5μA)