X射线激发荧光光谱仪的建立及闪烁晶体发光表征.pdfVIP

第 25 卷 　第 5 期 物 　理 　实 　验 Vol . 25 　No . 5 2005 年 5 月 　　 　 　　 　　　　　P H YSICS EXP ER IM EN TA T ION 　　　　 　　　　 May ,2005 X 射线激发荧光光谱仪的建立及闪烁晶体发光表征 1 2 3 2 黄彦林 ,冯锡淇 ,朱洪全 ,朱文亮 ( 1. 中原工学院 材料与化学工程系 ,河南 郑州 450007 ; 2 . 中国科学院 上海硅酸盐研究所 高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室 ,上海 200050 ; 3 . 诸城市城北职工子弟学校 , 山东 诸城 262200) 　　摘 　要 :利用 X 射线作为激发光源 , 自行组装并实现计算机控制的 X 射线激发荧光光谱仪. 介绍了 X 射线激发荧 光光谱仪的建立及其结构特性. 该仪器具有时间分辨率高 、测量动态范围大 、使用方便等优点 ,可应用于晶体 、粉末和液 体等各种样品的测量 ,该仪器同时还具有很强的扩展性. 关键词 :X 射线 ;激发 ;荧光光谱 ;光谱仪 ; 闪烁晶体 中图分类号 : T H744 . 16 ; O433 . 1 　　　文献标识码 :A 　　　文章编号 :(2005) 备能力和水平为国际所公认. 我国近年来对于闪 1 　引　言 烁性能的测试研究也有很大的进步 ,例如中国科 物质在γ射线或高能粒子作用下产生脉冲光 学院上海硅酸盐研究所为提高测量 PWO 晶体发 的现象称为闪烁效应 ,这些物质被称为闪烁体. 光性能的精确度 ,建立和发展了适合于低光产额 γ 无机闪烁晶体具有密度高 、透明和闪烁性能优 良 的 能谱拟合和解谱的方法 ;温度监察系统和温 等优点 ,从而在已经实用的闪烁材料中占据了重 度修正方法 ;建立了单光子延迟符合法测量荧光 要地位. 自从 1948 年 Hoft adt er 发现 N a I ( Tl) 晶 衰减时间装置 ;建立了可进行 3 种辐照方式可调 体的优良闪烁性能以来[ 1 ] ,经过半个多世纪的努 辐照剂量的辐照装置 ;这些装置不仅能精确地测 力 ,逐渐发现了如 Bi Ge O (B GO ) , CsI ,Ba F , 量闪烁性能 ,也为 PWO 晶体的性能研究提供了 4 3 12 2 Pb WO4 ( PWO ) , Ce F3 ,L u2 SiO5 ,L aCl3 和 L aBr3 很好的基础. 等性能优良的闪烁晶体 ,极大地拓宽了闪烁晶体 在闪烁晶体的各个性能参量中 ,发射光谱是 在高能物理与核物理 、医疗 、安全检查等领域的应 一个非常重要的性能指标 ,对晶体的开发和性能 用[2～5 ] . 如今 ,无机闪烁晶体 已经成为这些高新 的研究有很重要的意义. 在一般情况下 ,传统的 技术领域中不可缺少的关键材料. 发光材料荧光光谱的测量采用氙灯作为激发光 应用上对无机闪烁晶体提出新的要求 ,促使 源 ,其发射光大多在紫外波段 ,基本能够满足需 了对闪烁晶体的深入研究 ,从而使闪烁机理得到 (