CR机成像性能检测原始记录.docVIP

CR成像系统影像质量控制检测原始记录 委托单位 生产厂家/型号 地址 项目编号 科室 摄片号 检测日期 检测依据 检测仪器 1. 瑞典奥利科公司比拉那型X射线多功能检测仪； 2. CR/DR-26质量检测模板； 1、IP暗噪声（读取每块IP照射量指示值//显示器上超过2块IP影像上发现不均匀或为影) 检测条件 检测结果 2、IP响应均匀性和一致性(3块IP板,照三个照片,用光密度计测五个点) 管电压： kV ； 附加滤过： 输出量： mR/ mAs ； SID= 过滤条件 光密度计数值 平均值 均匀性 总平均值 一致性 3、照射量指示校准 管电压： kV ； 附加滤过： 输出量： mR/ mAs ； SID= 过滤条件 IP照射量指示数值E测量 E响应 平均值 合不合格 备注 4、IP响应线性 管电压： kV ； 附加滤过： SID= 过滤条件 入射照射量 IP照射量指示数值E测量 E响应 合不合格 备注 5、激光束功能 （铜尺长边垂直于激光束，放大镜，ROI测量工具测量） 管电压： kV ； 附加滤过： 输出量： mR/ mAs ； SID= 检测条件 检测结果(像素尺寸) 合不合格 60KV，无过滤，SID为180厘米 6、空间分辨力和分辨力一致性(测试卡三个置于IP暗盒里，乳腺摄影屏片密着检测板） 管电压： kV ； 附加滤过： 输出量： mR/ mAs ； SID= 检 测 条 件 检 测 结 果 0° 45° 90° 厂家提供的极限分辨力 合格不合格 60KV，无过滤，SID为180厘米 7、低对比度细节的探测（低对比度模体） 管电压： kV ； 附加滤过： 过滤条件 入射照射量 右分辨孔径 合不合格 4%对比度 2%对比度 按模体要求的管电压，滤过，SID为180厘米 8、空间距离准确性（两把钢尺，工作站上的数字测距器） 检测条件 方向 长度 误差 合不合格 影像上标称值 实测值 水平方向 垂直方向 IP擦除完全性（一块3毫米厚铅板，IP阅读器） 检测条件 曝光次数 入射照射量 IP照射量指示数值E测量 厂家提供的暗噪声 合不合格 10、滤线栅效应(混叠)（IP暗盒，滤线箱托盘） 检测条件 方向 检测结果（混叠伪影） 合不合格 水平 不用读数据 垂直 11、IP通过量（四个IP暗盒， IP板尺寸 时间 IP暗盒每小时通过量 厂家提供的每小时通过量 合不合格 1﹑胶片光密度计﹑空间分辨力测试卡﹑钢尺﹑铜滤过板﹑铝滤过板﹑低对比度细节探测模体﹑铅块﹑屏-片密度检测板、滤线栅、放大镜、计时器、测量用卷尺、固定用胶带等。 2、计算公式: 四个生产厂提供的CR系统IP的响应照射量(E响应)的计算公式 厂商 Agfa Fuji Konica Kodak 照射量指示表示的量与符号 照射量中位值M的对数 Lg M 感度值 S 感度值 S 照射量指数 EI 照射量指示的关系式 (E=照射量,mR) Lg M=log(CSE) –0.0953 (S=感度,对于 MD–10板C=1) S=200/E S=200/E EI=1000log(E)+2000 计算响应照射量(E响应)公式 (mR)=[(2276/S)×10(logM–3.2768)] E响应(mR)=200/S E响应(mR) =200/S log E响应(mR) =(EI–2000)/1000 检测中出现情况需要说明的： 检测者： 复核者： 受检单位确认： 深圳市天鉴检测技术服务有限公司检测原始记录 CR 第 1 页 共 3 页