根据均方根加速度修正功率谱图.pdfVIP

“根据均方根加速度修正功率谱图 单位：信息产业部电子第五研究所 作者：阳川 播要 奉支主要是捧播样本经分析得事j的琦率谱圈形和均方根加速度值，在所有样奉均方根 加速度值满足一定分布的前提下，荻取一十均方根加速度值，由馥数值来调整功率谱圈形 的包络残，曩终得到电子设备可奢性试验的规范功率谱． 关键词：曲宰谱 均方捧加速度 屯蝽绒 l引言 在电子设备可靠性试验应力剖面的设计过程中，首先是必须现场实删电子设备的环境 效据．然后就是把现砺实测的数据进行数据采样，教据检验．数据分析。数据归纳。最后 得到电子设鲁可靠性试验用规范诗型．遥罐．科研人员在进行规范功率淮型的归纳时．都 是采用对所有功宰谱图形取包络线的方法．报显然．不同的科研人员，由于经验的不同． 采用的方法不同，所获取的功事潜型将有所不同，而且其均方根加速度值也可能将不同． 由于该方法主理性太强，随意性太大，对于电子设备的可靠性试验割砸来说，用此功率诖 麓加的撮动应力有可能太大，将对电子设备造成破坏；而太小又不毙澉发出设备的故障． 因此该方法育一定的缺陷．现在．希望寻求一种方法，获取一个较真实的均方根加速度值， 根据这个值来确定功事潜的包络线．这样得到的功辜谱圈可以保证擅加应力的I睡大小一 样，用该振动应力燕加到电子设备上应该比较接近实际情况． 2获取弦据 设斌O是所采集的髓机信号的总体，并经过了数据的预处理．样本均满足平稳性、正 态性、周期性和各态历经性．现将其等分硪n段。组成样本的序列{硝t))(i=1。2，……。n)。 样本的时间历程举倒如圈1． 时阃 ——圈1经顶她垦同捌期碱 对于每个样本来说．经过快速福里埃变挠，都可以对应地得到一个功率谱圈彤(如图 2)和一个均方根加速度值．茵此，对于样本的序列{“t))(i．1，2……．n)，我们可以对应地 得到n个功事谱图形和n个均方根加速度值，下面采用方法对这些图形和数据进行处理和 归纳． ／： 、 7 ^ 多 √ 功 路 1 搴 ~I＼ 港 ＼，·。 ～聃 1 密 ～ 度 12 I | H； _ -_ 10 1∞ 频事(Hz) 圈2功率潜圈形示例 ·14l· 3检验教据 对于上面褥到的n个均方根加速度值．可以采用拟合优度检验法(卡埃平方法)对其进 行检验，结果发现．这n个均方根加速度值媾足高新分布． ●功搴誊的包络 现将获得的n个功率谱圈形置于同一对数坐标系中(如图3)，根明显地看到，这些图彤 的趋势比较接近．卵所有的峰基本在一个坐标点上．所有的答与峰一样，也位于周一坐标 点上，这就为我们选取圈形的包络线带来了方便．但包络应如何选取．如何才是最佳包络． 这具有一定的主观性，不同的科研人员，由于经验的不同，得到的包络线必然具有一定的 差异．用这样得到的功率港圈形对电子设备旌加应力．必然对设备造成过应力或欠应力， 用这样考棱出的电子设备与其实际使用情况将有较大的出^．因此．我们提出用均方根加 速度值来肇正功率谱图形的想法． 功 塞 谱 密 度 舌{ Hz 10