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箔式应变片三种桥路的性能比较.pdf

箔式应变片三种桥路的性能比较           221116 孙彪陈波中国矿业大学理学院 【摘  要】本文利用应变效应,通过CSY 系列传感器实验仪完整的测试系统将箔式应变片的应变转换成电阻变化,再根据应变 片个数不同借助三种测量电路将电阻变化转换成各电桥灵敏度大小,经过比较进一步验证了全桥电路的灵敏度最高,半桥次之的 结论,从而加深学生对所学知识的理解,并且还为利用箔式应变片测量力、加速度等物理参数提供了很好的依据。 【关键词】应变效应  测量电路  CSY  灵敏度     1  引言 U0 n K = = E 应变片是最常用的测力传感元件。电阻应变片的工作原 U ΔR 2 1 (1+n) 理是基于应变效应,即导体或半导体材料在外界力的作用下产 R1 生机械形变时,其阻值相应发生变化。当用应变片测试时,应 dKU 当值确定后,利用 =0求得n=1时,K 为最大值,即供 变片要牢固地粘贴在测试体的表面,当测件受力发生形变,应 dn U 变片的敏感删随变形,其电阻值也随之发生相应的变化。通过 桥电压确定后,R =R =R =R 时,电压灵敏度最高,此时有: 1 2 3 4 测量电路,转换成电信号输出显示。 ΔR1 E E U = ,K = 0 R 4 U 4 CSY 系列传感器系统实验仪是用于检测仪表类课程教学 1 实验的多功能教学仪器,其特点是集被测体、各种传感器、信号 ΔR1 E E 对于半桥电路则是:U = ,K = 0 R 2 U 2 激励、处理电路和显示器于一体,可以组成一个完整的测试系 1 统,可使学生对各种不同的传感器及测量电路的原理和组成有 ΔR1 同理对于全桥电路则是: , U =E K =E

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