材料分析测试技术A卷.docVIP

一、选择题（每题1分，共15分） 1、X射线衍射方法中，最常用的是（ ） A．劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法 2、已知X射线定性分析中有三种索引，已知物质名称可以采用（ ） A.哈式无机相数值索引 B.无机相字母索引 C.芬克无机数值索引 3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分析的信号是（ ） A. 背散射电子 B.俄歇电子 C.特征X射线 4、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用的方法是（ ） A.外标法 B.内标法 C.直接比较法 D.K值法 5、下列分析方法中分辨率最高的是（ ） A.SEM B.TEM C. 6、表面形貌分析的手段包括（ ） A.SEM B.TEM C.WDS D.7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ ） A.光电子 B.二次 C.俄歇电子 D.8、透射电镜的两种主要功能（ ） A.表面形貌和晶体结构 B.内部组织和晶体结构 C.表面形貌和成分价键 D.内部组织和成分价键 9、已知X射线光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ ） A.Co B.Ni C.Fe D.Zn 10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为（ ） A.非晶体样品 B.金属样品 C.粉末样品 D.陶瓷样品 11、在电子探针分析方法中，把X射线谱仪固定在某一波长，使电子束在样品表面扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像，这种分析方法是（ ） A.点分析 B.线分析 C.面分析 12、下列分析测试方法中，能够进行分析的测试方法是（ ） A. B.TEM C.SEM D.A+B 13、在X射线（ ） A. B. 内标法 C. K值法 14、热分析技术不能测试的样品是（ ） A.固体 B.液体 C.气体 15、下列热分析技术中，（ ）是对样品池及参比池分别加热的测试方法 A.DTA B.DSC C.TGA1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型，即 和 。 2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、 、 、高级劳厄带斑点、 。 3、 、 、 和 4、今天复型技术主要应用 方法来截取第二相微颗粒进行分析。 5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是 、 和 6、德拜照相法中的底片安装方法有 、 和 7、产生衍射的必要条件是 8、倒易点阵的两个基本特征是 和 9、射电镜成像遵循 原理 1、X射线强度 2、3、差热分析4、简述扫描电镜的结构。五、论述题（共25分） 1、 由于产生衍射的充分必要条件是“反射定律+布拉格方程+F≠0。满足布拉格方程只是可能产生衍射，但不一定会产生衍射。对于体心立方点阵来说： h+k+l为偶数：F 2=4fa2h+k+l为奇数：F2=0 其倒易点阵为面心点阵；只有当h+k+l为偶数时才能产生衍射。 （001）面h+k+l为奇数，不能产生衍射，(011)面为偶数，可以产生衍射 第 4 页/共 6 页