SPC基本理论.pptVIP

ETBEST Consulting Company Learning Objectives History of SPC 共同原因、特殊原因說明 SPC 原理 管制圖選用及做法 管制圖分析 Cpk/Ppk SPC 發展 QA History of Control Chart Developed in 1920’s By Dr. Walter A. Shewhart Shewhart worked for Bell Telephone Labs. 管制圖的目的 管制圖和一般的統計圖不同，因其不僅能將數值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異係屬於機遇性或非機遇性，以指示某種現象是否正常，而採取適當之措施。 共同原因、特殊原因 共同原因：指的是造成隨著時間推移具有穩定的且可重復的分布製程中的許多變異的原因，我們稱之為：“處於統計管制狀態”、“受統計管制”，或有時簡稱“受管制”，共同原因表現為一個穩定系統的偶然原因。只有變異的共同原因存在且不改變時，製程的輸出才可以預測。 特殊原因：指的是造成不是始終作用於製程的變異的原因，即當它們出現時將造成(整個)製程的分配改變。除非所有的特殊原因都被查找出來並且採取了措施，否則它們將繼續用不可預測的方式來影響製程的輸出。如果系統內存在變異的特殊原因，隨時間的推移，製程的輸出將不穩定。 SPC基本原理 　　　　蘇華特博士將影響產品品質的變異分為不可歸咎變異和可歸咎變異等兩類因素: 1)不可歸咎變異因素是在製程中隨時都會影響到產品。 2)可歸咎變異因素則是在某種特定條件下的製程中才會影響到產品。 　　如果某一製程只受到不可歸咎變異因素影響,則該製程稱為穩定製程,即是產品品質特性的變異是在可預測的統計控制範圍之內; 另一方面,如果某一製程同時被不可歸咎與可歸咎兩個變異因素所影響,則該製程是不穩定的,此時產品品質特性的變異將無法以統計方法來預測。 SPC圖正是為了判斷製程是否穩定,或是區分製程究竟是被不可歸咎變異因素或可歸咎變異因素所影響的一種統計技術。 管制圖原理 管制界限和規格界限 規格界限：是用以說明品質特性之最大許可值，來保證各個單位產品之正確性能。 管制界限：應用於一群單位產品集體之量度，這種量度是從一群中各個單位產品所得之觀測值所計算出來者。 管制圖種類(以數據來分) 計量值管制圖 平均值與全距管制圖 平均值與標準差管制圖 中位值與全距管制圖 個別值與移動全距管制圖 計數值管制圖 不良率管制圖 不良數管制圖 缺點數管制圖 單位缺點數管制圖 管制圖種類(依用途來分) 解析用管制圖 決定方針用 製程解析用 製程能力研究用 製程管制準備用 案例 使用管制圖的準備 建立適用於實施的環境 定義製程 確定待管理的特性，考慮到 顧客的需求 當前及潛在的問題區域 特性間的相互關係 確定測量系統 使不必要的變異最小 取樣的方式 取樣必須達到組內變異小，組間變異大 樣本數、頻率、組數的說明 組數的要求(最少25組) 每個子組的平均值和全距的計算 平均值和全距 平均值的計算 管制圖的判讀 超出管制界限的點：出現一個或多個點超出任何一個管制界限是該點處於非管制狀態的主要證據 為了繼續進行管制延長管制界限 估計製程標準偏差 計算新的管制界限 案例分析 案例 請計算出上表的 管制圖的管制界限？ 請判定製程是否穩定？ 如果是不穩定該如何處理？ A1子組容量、頻率、數量 子組容量：用於計數型數據的控制圖一般要求較大的子組容量(例如50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內能包括幾個不合格品，但樣本數如果太利也會有不利之處。 分組頻率：應根據產品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發現的問題。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 子組數量：要大於等於25組以上，才能判定其穩定性。 A2計算每個子組內的不合格品率 記錄每個子組內的下列值 被檢項目的數量─n 發現的不合格項目的數量─np 通過這些數據計算不合格品率 A3選擇控制圖的坐標刻度 描繪數據點用的圖應將不合格品率作為縱坐標，子組識別作為橫坐標。縱坐標刻度應從0到初步研究數據讀數中最大的不合格率值的1.5到2倍。 A4將不合格品率描繪在控制圖上 描繪每個子組的p值，將這些點聯成線通常有助於發現異常圖形和趨勢。 當點描完後，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當這些情況被發現時，將它們記錄在控制圖的“備註”部份。 畫線並標註 均值用水平實線線：一般為黑色或藍色實線。 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。 盡量讓樣本數一致，如果樣本數一直在變化則會如下圖： 分析數據點，找出不穩定的證據 點 線 面