120V隔离开关接触失效物理分析.pdfVIP

低压电器 (2o1O№3J ·研究与分析 · 120V隔离开关接触失效物理分析 石 颉， 姚建林， 张 路， 施海宁， 涂丰盛 (苏州热工研究院有限公司，江苏 苏州 215004) 摘 要：应用智能型多功能AD／DA转换单元、电压跟随单元、取样单元及可调节 档位的电压信号放大单元 ，通过USB接口与计算机进行数据交换，配合编程软件对一 个失效的120V隔离开关进行了接触电阻的变化趋势分析。应用电子扫描显微镜以及 x射线能谱分析等表面微观分析技术，观察隔离开关电接触表面的形貌 ，并分析微区成 石 颉 (1978一)， 分，确定隔离开关接触系统失效的原因。 男，工程师，博士， 关键词：隔离开关；失效分析；接触 电阻；电子扫描显微镜 研究方向为电气仪 中图分类号：TM564 文献标识码：A 文章编号：1001-5531(2010)03-0004-04 控设备老化管理、 电力系统稳定与控 PhysicalAnalysisonContactFailureof 制。 120V IsolatingSwitch SHIJ ， YAOJianlin， ZHANGLu， SHIHaining． TUFengsheng (SuzhouNuclearPowerInstitutionCo．，Ltd．，Suzhou215004，China) Abstract：Thecontactresistanceof120V isolatingswitchwastestedbynnequipmentwhichwasmadeupof intelligentmulti-functionAD／DAconverter，voltagefollower，samplingunitandvoltageamplifyselector，connected withcomputerbyUSBinterface，cooperatedwithLabVIEW software．Th escanningelectronmicroscopynadenergy dispersivenaalysissystem ofX—raywereusedtoinspectandanalysethecontactofisolatingswitch．Byobserving themicrocosmicappearanceandnaalysingthecomponentofcontact，thefailurecauseswereconfirmed． Keywords：isolatingswitch；failureanalysis；contactresistor；scanningelectronmicroscopy(SEM) 材料的失效机理，作为消除或减少失效发生的原 0 引 言 因或依据，最终达到提高产品零件或材料可靠度 失效物理分析是以待分析样品的失效规律 的 目的 。 (即宏观表象特征和微观过程机理)为理论依据， 文章阐述了接触电阻的组成及特性 引，研制 把通过调查、观察或实验获得的失效信息 (包括