全速电流测试故障精简和测试生成.pdfVIP

第16卷 第 10期 计算机辅助设计与图形学学报 v01．16．NO．10 2004年 10月 JOURNALOFCOMPUTER—AIDEDDESIGN COMPUTERGRAPHICS 0ct．．2004 全速 电流测试的故障精简和测试生成 牛小燕D 闵应骅 邝继顺 ”(湖南大学计算机与通信学院 长沙 410082) (中国科学院计算技术研究所信息网络研究室 北京 100080) 摘 要 针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题 ， 提出故障压缩 、故障模拟等故障精简的方法 ，以提 高该方法的测试生成效率．实验结果表明，该方法使得需要进行测试生成 的故障点平均减少 了66 ． 8％，该测试方法 的测试生成的效率提高了200多倍． 关键词 全速电流测试 ；故障压缩；测试生成；开路故障 中图法分类号 TP331 FaultCollapsingandTestGeneration forAt．speedCurrentTesting NiuXiaoyan) MinYinghua1,2) KuangJishunI ’(CollegeofComputerandCornmunication，HunanUniversity，Changsha 410082) (NetworkLaboratory，InstituteofCo ”tputingTechnology，ChineseAcademyofSciences，Beijing 100080) Abstract Though thedynamiccurrenttestingcan covermorefaultsthan JDDQ，itrequiresavery highspeedautomatictestequipment(ATE)orahighqualitysensorforon-linetesting，whichisnot availableatpresent．Themethodofat—speedcurrenttestingappliestwoalternativevectorstothecircuits undertesttoenablethepossibilityforusing aslow measurementandtesting-- atahigh frequency operation．Thispaperproposessometechniquesforfaultcollapsingofrstuck-open faults，and their applicationtotestgeneration forat．speed currenttesting．Experimentalresultsshow thatthetest generationefficiencyisimprovedby200timesthroughemploymentofthefaultcollapsingtechniques． Keywords at—speedcurrenttesting；faultcompression；testgeneration；stuck-openfaults 的概念 ，企图通过观察和分析 电路在其 内部状态发 1 引 言 生变化时所产生的瞬态 电流，来发现某些不能被其 他测试方法发现的故障．这种方法作为传统测试方 微 电子技术的迅猛发展给现有的测试技术和测 法的一个补充 ，正逐步受到研究领域和工业领域 的 试仪器带来 了严峻的挑战．20世纪 80年代初 ，人们 关注 J．但是 ，这种测试方法对 电流识别精度和测 提出了测量 CMOS电路稳态电流 (JDDo)的方法 ，它 试仪的要求太高．对于 1