Au_MgF_2团簇薄膜TEM图像二值化阈值选取研究.pdfVIP

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26 3 电 子 显 微 学 报 Vol26, No3 2007 6 Journal of Chinese Electron Microscopy Society 200706 :2007) AuMgF TEM 2 1, 2 2 1 1* 吕建国 , 戴结林 , 宋学萍 , 孙兆奇 ( 1. 安徽大学物理与材料科学学院, 安徽 合肥 230039; 2. 安徽教育学院物理与电子 程系, 安徽 合肥 230061) : 用透射电镜(TEM) 观察磁控溅射制备AuMgF 团簇薄膜的形貌, 对团簇薄膜TEM 图像采用灰度平均值法 2 和Boltzma 拟合参数法进行二值化处理, 并用分形理论表征薄膜中Au 团簇的分布规律结果显示: 随着Au 体积 分数从60% 增加到490% , 用灰度平均值法所得分形维数由1851 增大到 1869, 而由Boltzma 拟合参数法所得 分形维数从1669 逐渐增大到 1941两种方法所得分形参数均能表征Au 团簇的尺寸和分布复杂程度随体积分数 的变化规律, 而由Boltzma 拟合参数法所得结果还能很好地表征不同体积分数薄膜Au 团簇分布的差异性 : AuMgF 团簇薄膜; TEM; 二值化阈值; 分形表征 2 + : O484; TB383; O766 1 : A [ 4, 5] , , , , Ma delbrot 1967 , , , , , , , [ 6~ 10] , Niklasso [ 1] CoAl2 O3 , , [ 2] Co ; Pal , AuZ O , [ 11, 12] , Au ; [ 3] Boltzma AgBaTiO

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