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K-analys AB Shanghai 瞬变平面热源法（TPS）技术 TPS技术的优点 直接测量热传播，可以节约大量的时间 不会和静态法一样受到接触热阻的影响 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等的测定 TPS技术的延伸 薄膜法 平板法 各向异性法 国内主要客户 清华大学 四川大学 西安交通大学 上海交通大学 中国科技大学 同济大学 西北工业大学 华南理工大学 东莞优邦 华为技术 中科院大连化物所 中科院广州能源所 陕西华兴航空机轮刹车系统有限责任公司 山东建筑工程学院 福建华清电子材料科技有限公司 郑州烟草研究院 美国Dow Corning（上海）公司 航空材料与工艺研究所 * * A Unique Instrument for Measuring Thermal Properties 石英晶体微天平 导热系数仪 K-Analys AB 为了更好地拓展中国市场，由四家公司共同注资的瑞典凯戈纳斯有限公司于2006年10月在上海设立了代表处 反应过程分析仪 ChemiSens 绝热量热仪、微反应量热仪 Hot Disk AB 成立: 1995 总部: Uppsala, Sweden 分支机构: Scandinavia, UK, France, Germany, US, Canada, Japan, Taiwan 用户: More than 250 world wide, more than 20 in China Evolution of Hot Wire Method 热线法 1960s 热带法 1970s Hot Disk 1980s TPS 技术 TPS技术原理 Hot Disk的测量原理基于由Silas Gustafsson博士发明的瞬变平面热源法（Transient Plane Source Method, TPS） 数秒钟完成导热系数(Thermal Conductivity)、热扩散率(Thermal Diffusivity)和热容(Heat Capacity)的测试 数学模型 Time Temp. 对函数的拟合得到 热扩散系数 斜率得到 导热系数 Thermal Conductivity W/mK Thermal Diffusivity mm2/s = Cp Heat Capacity MJ/m3K 样品 输出功率、测试时间、探头尺寸 热扩散系数、测试时间和探头半径平方的比值被称为 特征时间 ?x t r x r 样品 探头 = 0.3 – 1.0 通过调整测试时间和探头半径等参数来适应基本的数学假设 瞬变平面热源法的基础 一个全新的数学模型 - 一个特别的电子数据采集系统 -一个独特的探头 Double spiral Structure Radii: 0.492 - 29.40 mm Both as heater and sensor 材料：纸、织物、布、高聚物薄膜等绝缘材料 厚度： 10μm ~ 500μm 导热系数： 0.01W/mK ~ 10W/mK Background material (good conductor) Sample Sensor Sample Background material Insulator Sample Sensor Sample Insulator 材料：陶瓷、金属、硅片等导热材料 导热系数： 10 W/mK 厚度： 0.2 mm ~ 20 mm 径向 Conductvity Diffusivity 轴向 Conductivity Di