计算机控制关键技术课内试验参考指导书.docVIP

试验一并行接口应用

一.试验要求

1.P1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。

2.P1口做输入口，接八个拨动开关，以试验机上74LS273做输出口，编写程序读取开关状态，将此状态，在发光二极管上显示出来。

二.试验目标

1.学习P1口使用方法。

2.学习延时子程序编写和使用。

三.试验电路及连线

试验一时，P1.0-P1.7接L0-L7。

试验二时，P1.0-P1.7接K0-K7，PO0-PO7接L0-L7。CS273接第eq\o\ac(○,7)模块地址译码F200。

四.试验说明

1.P1口是准双向口。它作为输出口时和通常双向口使用方法相同。由准双向口结构可知当P1口作为输入口时，必需先对它置高电平使内部MOS管截止。因为内部上拉电阻阻值是20KΩ~40KΩ，故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高，且原来是低电平，则MOS管导通，读入数据是不正确。

2.延时子程序延时计算问题

对于程序DELAY:

MOVR0，#00H

DELAY1:

MOVR1，#0B3H

DJNZR1，$

DJNZR0，DELAY1

查指令表可知MOV，DJNZ指令均需用两个机器周期，而一个机器周期时间长度为12／11.0592MHz，所以该段程序实施时间为：

（（0B3＋1）×256＋1）×2×12100.002mS

五.试验框图

程序框图：

TP1A.ASM主程序框图TP1B.ASM主程序框图

试验二D/A转换试验

一.试验要求

编写程序，使D/A转换模块循环输出锯齿波和三角波。

二.试验目标

1.了解D/A转换基础原理。

2.了解D/A转换芯片0832性能及编程方法。

3.了解单片机系统中扩展D/A转换基础方法。

三.试验电路及连线

CS0832接F218。用示波器探头测量eq\o\ac(○,9)模块VOUT孔，观察显示波形。

四.试验说明

D/A转换是把数字量转化成模拟量过程，本试验输出为模拟电压信号，此次试验生成波形较为简单，有爱好者可试编程序生成多种波形，如方波，正弦波等，也可和键盘显示模块结合起来，组成一个简单波形发生器，经过键盘输入多种参数，如频率，振幅（小于+5V），方波占空比等。

五.试验程序框图

试验示例程序见配套盘片中0832WAVE.ASM。

试验三A/D转换试验

一.试验要求

利用试验板上ADC0809做A/D转换器，利用试验板上电位器W1提供模拟量输入。编制程序，将模拟量转换成二进制数字量，用发光二极管显示。

二.试验目标

1．掌握A/D转换和单片机接口方法。

2．了解A/D芯片ADC0809转换性能及编程。

3．经过试验了解单片机怎样进行数据采集。

三.试验电路及连线

CS0809接F230。eq\o\ac(○,26)模块电位器中心抽头Wout(即0~5v)孔接至ADC0809IN0（通道0）。EOC连P3.2（INT0）。将单片机P1.0~P1.7接至八位发光二极管L0–L7。

四.试验说明

ADC0809是八位逐次迫近法A/D转换器，每采集一次通常需100us。中止方法下，A/D转换结束后会自动产生EOC信号，经一级74LS14反相后和8031INT0相接。

本示例程序采取了中止处理来正确读取A/D转换结果。用户也能够用延时来确保A/D转换完成。读取结果由P1口送至八位发光二极管显示。

五.试验程序及框图

试验示例程序见配套盘片中PAD.ASM。

试验示例程序步骤框图以下：