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2025扫描电镜试题及答案

一、单项选择题(每题2分,共10题)

1.扫描电镜(SEM)主要用于观察样品的什么特性?

A.光学性质

B.电磁场分布

C.表面形貌

D.内部结构

答案:C

2.在扫描电镜中,二次电子信号主要来源于样品的什么区域?

A.样品表面

B.样品内部

C.样品背底

D.样品边缘

答案:A

3.扫描电镜中常用的探测器是?

A.光电倍增管

B.热电偶

C.半导体探测器

D.离子探测器

答案:A

4.扫描电镜的分辨率主要受什么因素影响?

A.加速电压

B.样品温度

C.真空度

D.探测器类型

答案:A

5.扫描电镜中,背散射电子信号主要反映样品的什么性质?

A.表面形貌

B.元素组成

C.化学性质

D.晶体结构

答案:B

6.扫描电镜中,样品室内的真空度通常要求达到?

A.10^-3Pa

B.10^-5Pa

C.10^-6Pa

D.10^-2Pa

答案:C

7.扫描电镜中,样品台的作用是?

A.提供光源

B.支持样品

C.产生电磁场

D.探测信号

答案:B

8.扫描电镜中,常用的样品制备方法不包括?

A.脱水

B.蒸发

C.离子溅射

D.热压

答案:D

9.扫描电镜中,样品的导电性对成像质量的影响是?

A.导电性好,成像质量高

B.导电性好,成像质量低

C.导电性差,成像质量高

D.导电性差,成像质量低

答案:A

10.扫描电镜中,常用的加速电压范围是?

A.1-5kV

B.5-20kV

C.20-50kV

D.50-100kV

答案:C

二、多项选择题(每题2分,共10题)

1.扫描电镜的主要组成部分包括?

A.电子枪

B.真空系统

C.样品台

D.探测器

E.显像管

答案:A,B,C,D

2.扫描电镜中,常用的样品类型包括?

A.固体样品

B.液体样品

C.气体样品

D.生物样品

E.薄膜样品

答案:A,D,E

3.扫描电镜中,常用的成像模式包括?

A.二次电子成像

B.背散射电子成像

C.扫描透射电子成像

D.能量色散X射线成像

E.俄歇电子成像

答案:A,B,D,E

4.扫描电镜中,样品制备的目的是?

A.提高样品导电性

B.增强样品表面形貌

C.减少样品污染

D.提高样品透明度

E.增强样品磁性

答案:A,B,C

5.扫描电镜中,常用的加速电压对成像质量的影响包括?

A.加速电压越高,分辨率越高

B.加速电压越高,样品损伤越大

C.加速电压越低,样品损伤越小

D.加速电压越高,信号强度越强

E.加速电压越低,信号强度越弱

答案:A,B,C,D

6.扫描电镜中,常用的探测器类型包括?

A.光电倍增管

B.热电偶

C.半导体探测器

D.离子探测器

E.俄歇电子探测器

答案:A,C,E

7.扫描电镜中,样品台的类型包括?

A.机械样品台

B.电磁样品台

C.热场样品台

D.冷场样品台

E.真空样品台

答案:A,C,D

8.扫描电镜中,样品的导电性对成像质量的影响包括?

A.导电性好,成像质量高

B.导电性好,成像质量低

C.导电性差,成像质量高

D.导电性差,成像质量低

E.导电性对成像质量无影响

答案:A,D

9.扫描电镜中,常用的样品制备方法包括?

A.脱水

B.蒸发

C.离子溅射

D.热压

E.离子研磨

答案:A,B,C,E

10.扫描电镜中,常用的成像模式包括?

A.二次电子成像

B.背散射电子成像

C.扫描透射电子成像

D.能量色散X射线成像

E.俄歇电子成像

答案:A,B,D,E

三、判断题(每题2分,共10题)

1.扫描电镜的分辨率可以达到纳米级别。

答案:正确

2.扫描电镜中,二次电子信号主要反映样品的表面形貌。

答案:正确

3.扫描电镜中,背散射电子信号主要反映样品的元素组成。

答案:正确

4.扫描电镜中,样品的导电性对成像质量没有影响。

答案:错误

5.扫描电镜中,常用的加速电压越高,样品损伤越大。

答案:正确

6.扫描电镜中,样品台的类型只有机械样品台。

答案:错误

7.扫描电镜中,样品制备的目的是提高样品导电性。

答案:错误

8.扫描电镜中,常用的探测器类型只有光电倍增管。

答案:错误

9.扫描电镜中,样品的导电性对成像质量没有影响。

答案:错误

10.扫描电镜中,常用的成像模式只有二次电子成像。

答案:错误

四、简答题(每题5分,共4题)

1.简述扫描电镜的基本工作原理。

答案:扫描电镜的基本工作原理是利用聚焦的高能电子束扫描样品表面,通过探测二次电子、背散射电子等信号,形成样品

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