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2025年全国特种设备检验检测人员专业培训考试无损检测练习题及答案

一、单项选择题（每题1分，共30分）

1.在射线照相中，若底片黑度从2.0提高到3.0，则曝光量应增加约

A.1倍?B.1.5倍?C.2倍?D.2.5倍

答案：C

解析：黑度与曝光量呈指数关系，ΔD=1时曝光量约增2倍。

2.采用A型脉冲反射法超声检测，探头K值2.0，检测厚度40mm对接焊缝，一次波声程范围是

A.0～56mm?B.0～80mm?C.0～112mm?D.0～160mm

答案：C

解析：K=tanθ=2，声程=厚度/cosθ=40/0.447≈89mm，一次波往返≈112mm。

3.磁粉检测中，下列哪种电流对表面裂纹灵敏度最高

A.交流?B.单相半波整流?C.三相全波整流?D.直流

答案：A

解析：交流趋肤效应强，表面磁场变化剧烈，利于微细裂纹显示。

4.渗透检测时，显像剂层过厚会导致

A.背景反差增大?B.缺陷显示变宽?C.渗出时间缩短?D.荧光亮度提高

答案：B

解析：厚层毛细作用紊乱，渗出的渗透剂横向扩散，显示变宽且模糊。

5.对Φ219mm×16mm环向对接焊缝作射线检测，按NB/T47013.2-2023要求，透照厚度比K值应不大于

A.1.01?B.1.03?C.1.06?D.1.10

答案：C

解析：标准规定外径＞150mm环缝，K≤1.06。

6.TOFD检测中，若两探头中心距2s=120mm，工件厚40mm，则直通波与底面反射波时间间隔约为（钢中纵波声速5.95km/s）

A.6.7μs?B.13.4μs?C.20.1μs?D.26.8μs

答案：B

解析：Δt=2s/v=120/5.95≈20.2μs，但直通波与底波路径差为2×40=80mm，Δt=80/5.95≈13.4μs。

7.采用Ir-192射线源，半值层为12mm钢，若初始剂量率80mSv/h，经36mm钢屏蔽后剂量率为

A.5mSv/h?B.10mSv/h?C.15mSv/h?D.20mSv/h

答案：B

解析：36mm=3×12mm，衰减系数23=8，80/8=10mSv/h。

8.在超声检测中，若斜探头入射角为30°，钢中横波声速3.23km/s，则折射角约为

A.37°?B.45°?C.56°?D.63°

答案：C

解析：sinα/c=sinβ/cs，sinβ=sin30°×3.23/5.95≈0.27，β≈56°。

9.磁粉检测中，用剩磁法检测时应保证工件表面切向磁场强度不低于

A.2kA/m?B.4kA/m?C.6kA/m?D.8kA/m

答案：A

解析：NB/T47013.4-2023规定剩磁法≥2kA/m。

10.对同一缺陷，射线照相底片黑度从2.0降至1.5，其对比度ΔD将

A.增大20%?B.基本不变?C.减小约30%?D.减小约50%

答案：C

解析：对比度近似∝D^(1/2)，(1.5/2.0)^(1/2)≈0.87，减小约13%，但颗粒度噪声增大，综合下降约30%。

11.渗透检测中，乳化时间不足最可能导致的缺陷是

A.过度清洗?B.虚假显示?C.背景过亮?D.缺陷漏检

答案：D

解析：乳化不足，残油封堵缺陷口，显像剂无法吸附渗透剂，导致漏检。

12.在射线实时成像中，图像增强器输入屏采用的材料是

A.NaI(Tl)?B.CsI(Tl)?C.ZnS(Ag)?D.CdWO?

答案：B

解析：CsI(Tl)柱状晶体结构，分辨率高，光输出稳定。

13.对Φ508mm×20mm球罐赤道带环缝作全景曝光，若源在外单壁透照，焦距800mm，则有效长度约为

A.250mm?B.300mm?C.350mm?D.400mm

答案：C

解析：按几何投影公式Le=2√(f2-(f-t)2)=2√(8002-7802)≈350mm。

14.超声检测中，若仪器垂直线性误差为5%，则对Φ2mm平底孔回波高度测量最大误差为

A.±0.4dB?B.±0.8dB?C.±1.2dB?D.±1.6dB

答案：B

解析：ΔdB=20lg(1±0.05)≈±0.42dB，取最大±0.8dB。

15.磁粉检测中，若工件长500mm、直径50mm，采用线圈法纵向磁化，线圈10匝、电流1500A，则工件表面磁场强度约为

A.3kA/m?B.6kA/m?C.9