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《GB_T 43493.2-2023半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法》专题研究报告.pptx

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    《GB/T43493.2-2023半导体器件功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据第2部分：缺陷的光学检测方法》专题研究报告

    目录为何GB/T43493.2-2023聚焦功率器件用碳化硅外延片光学检测?专家视角解析标准制定背景与行业紧迫性光学检测方法在碳化硅外延片缺陷检测中如何操作?标准规定的检测流程与关键步骤专家指导未来3-5年碳化硅功率器件行业发展对缺陷检测有何新需求?标准如何适配行业趋势提供技术支撑标准实施后对碳化硅外延片生产企业有何影响?从质量管控到市场竞争力提升的全面分析国际同类标准与GB/T43493.2-2023有何差异?我国标准在国际竞争中

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