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基于OVM的集成电路验证技术：原理、应用与展望.docx

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    基于OVM的集成电路验证技术：原理、应用与展望

    一、引言

    1.1研究背景与意义

    随着信息技术的飞速发展，集成电路作为现代电子系统的核心，其规模和复杂度呈指数级增长。从早期的小规模集成电路到如今的超大规模集成电路，芯片上集成的晶体管数量不断攀升，功能也日益强大。这种发展趋势对集成电路验证技术提出了前所未有的挑战。在集成电路设计流程中，验证环节占据着至关重要的地位。据统计，在整个集成电路设计项目中，验证工作往往耗费超过70%的时间和资源。这是因为一旦在芯片制造后才发现设计错误，其修改成本将是设计阶段的数百倍甚至数千倍。因此，高效、准确的验证技术是确保集成电路质量和性能的关键，对于缩短设计周

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