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摘要
基于STC89系列单片机,根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。从数字集成电路的原始输入端施加若干输入矢量作为激励信号,观察由此产生的输出响应,并与预期的正确结果进行比较,一致则表示芯片完好,不一致则表示芯片有故障。该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键词:芯片检测;TTL74、54系列芯片;功能测试
Abstract
BasedonSTC15SeriesMCU,thetestprogramiswrittenaccordingtothepincharact
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