基于精密测量需求的光栅尺读数头微型光学显微成像系统创新设计与性能研究.docx

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基于精密测量需求的光栅尺读数头微型光学显微成像系统创新设计与性能研究

一、绪论

1.1研究背景与意义

在现代制造业和精密工程领域,对高精度测量的需求日益增长。无论是半导体芯片制造中对纳米级精度的追求,还是航空航天零部件加工对亚微米级公差的严格要求,又或是医疗器械生产中对精密尺寸的把控,高精度测量都扮演着举足轻重的角色。光栅尺作为一种高精度的位移测量传感器,基于莫尔条纹原理,通过对光栅副相对位移产生的莫尔条纹变化进行检测和分析,能够实现对物体位移、速度等参数的精确测量,在精密测量领域占据着不可或缺的地位。

在数控机床领域,光栅尺被广泛应用于坐标轴的位置检测。例如,在高精度数控铣床上,光栅尺能够

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