基于逻辑锥和SAT的带黑盒电路等价性验证方法：理论、实践与优化.docx

下载文档

0
0
约3.6万字
约 28页
2025-09-25 发布于上海
举报
版权申诉
保障服务

基于逻辑锥和SAT的带黑盒电路等价性验证方法：理论、实践与优化.docx

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。

基于逻辑锥和SAT的带黑盒电路等价性验证方法：理论、实践与优化

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，集成电路（IC）已成为各类电子设备的核心组成部分，其设计的正确性和可靠性直接影响到整个系统的性能与功能。随着半导体工艺技术的飞速发展，集成电路的规模和复杂度呈指数级增长，从早期的小规模集成电路（SSI）逐步发展到如今的超大规模集成电路（VLSI）和甚大规模集成电路（ULSI）。例如，现代微处理器芯片上集成了数十亿个晶体管，实现了极为复杂的计算和控制功能。这种复杂度的提升在带来强大性能的同时，也使得集成电路设计验证面临前所未有的挑战。

在集成电路设计流程中，等价性验证是确保设计