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2025年矿大测试技术试题及答案

本文借鉴了近年相关经典测试题创作而成，力求帮助考生深入理解测试题型，掌握答题技巧，提升应试能力。

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2025年矿业大学测试技术试题

一、填空题（每空2分，共20分）

1.测试系统的基本组成包括传感器、信号调理电路、______、显示记录装置。

2.在动态测试中，测试系统的幅频特性是指系统对不同频率正弦输入信号的______。

3.测量误差按性质分为系统误差、随机误差和______。

4.常用的信号调理电路包括滤波器、放大器、______和调制解调器。

5.电阻应变片的工作原理基于金属丝电阻率的______效应。

6.测量不确定度评定分为A类评定和B类评定，其中A类评定是指通过______对随机效应进行评定。

7.在振动测试中，常用的传感器有加速度计、速度传感器和______。

8.测试数据采集系统通常由______、数据调理、数据采集和控制单元组成。

9.测试系统的灵敏度是指输出量与输入量的______。

10.静态测试是指被测量在______内保持不变或变化极小的测试。

二、选择题（每题3分，共30分）

1.下列哪种传感器适用于测量静态应变？

A.位移传感器

B.压力传感器

C.加速度计

D.应变片

2.测试系统的信噪比越高，表示：

A.系统的灵敏度越高

B.系统的干扰越小

C.系统的线性度越好

D.系统的稳定性越好

3.在动态测试中，系统的相频特性是指：

A.系统对不同频率输入信号的幅值响应

B.系统对不同频率输入信号的时间响应

C.系统对不同频率输入信号的相位响应

D.系统对不同频率输入信号的频率响应

4.测量误差中，可以通过多次测量求平均值来减小的是：

A.系统误差

B.随机误差

C.粗大误差

D.系统误差和随机误差

5.电阻应变片的灵敏系数K是指：

A.应变片电阻变化率与应变之比

B.应变片电阻变化率与温度之比

C.应变片电阻变化率与电压之比

D.应变片电阻变化率与电流之比

6.测试数据采集系统中，ADC的主要作用是：

A.信号放大

B.信号滤波

C.信号数字化

D.信号调制

7.测试系统的线性度是指：

A.系统输出与输入的线性关系程度

B.系统的灵敏度变化范围

C.系统的稳定性程度

D.系统的信噪比

8.测量不确定度评定中，B类评定通常基于：

A.实验室数据

B.检定证书

C.理论分析

D.专家意见

9.在振动测试中，加速度计的频率响应范围通常：

A.比速度传感器的频率响应范围窄

B.比速度传感器的频率响应范围宽

C.与速度传感器的频率响应范围相同

D.与速度传感器的频率响应范围无关

10.静态测试中，常用的测量方法包括：

A.信号分析法

B.频率响应分析法

C.静态加载法

D.振动分析法

三、简答题（每题5分，共20分）

1.简述测试系统的基本组成及其功能。

2.简述测量误差的来源及其分类。

3.简述应变片的工作原理及其主要类型。

4.简述振动测试中加速度计、速度传感器和位移传感器的区别。

四、计算题（每题10分，共30分）

1.某测试系统在输入电压为5V时，输出电压为50V，在输入电压为10V时，输出电压为100V。求该系统的灵敏度。

2.某应变片灵敏系数K=2，在测量时电阻变化率为0.01Ω，求应变片的应变值。

3.某振动测试中，加速度计的灵敏度为100mV/g，在测量时输出电压为200mV，求测量的加速度值。

五、论述题（每题10分，共20分）

1.论述测试系统动态特性的重要性及其对测试结果的影响。

2.论述测量不确定度评定的意义及其在测试中的重要性。

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参考答案

一、填空题

1.数据采集器

2.幅值响应

3.粗大误差

4.隔离器

5.应变

6.观测数据

7.位移传感器

8.传感器

9.比值

10.静态

二、选择题

1.D

2.B

3.C

4.B

5.A

6.C

7.A

8.B

9.B

10.C

三、简答题

1.测试系统的基本组成及其功能：

-传感器：将非电量转换为电量信号。

-信号调理电路：对传感器输出的信号进行放大、滤波等处理。

-数据采集器：将模拟信号转换为数字信号。

-显示记录装置：显示或记录测试数据。

2.测量误差的来源及其分类：

-来源：仪器误差、环境误差、人员误差、方法误差等。

-分类：

-系统误差：具有确定的大小和方向，可通过校准修正。

-随机误差：大小和方向随机变化，可通过多次测量求平均值减小。

-粗大误差：明显偏离正常值的误差，需剔除。

3.应变片的工作原理及其主要类型：

-工作原理：基于金属丝电阻率的应变效应，即金属丝受拉伸或压缩时，其电阻率会发生变化。

-主要类型：

-金属应变片：基于金属丝或箔的应变效应。

-半导体应变片：基于半导体材料的压阻效应。

4.振动测试中加速度计、速度传感器和位移传感器的区别：

-加速度计：测量振动加速度，频率