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实施指南《GB_T4937.27-2023半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）》实施指南.docxVIP

实施指南《GB_T4937.27-2023半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）》实施指南.docx

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    《GB/T4937.27-2023半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）》实施指南

    目录

    一、标准出台背后：为何机器模型（MM）静电放电测试成为半导体行业未来五年质量管控的关键？专家视角剖析标准修订的时代必然性与技术前瞻性

    二、机器模型（MM）测试原理深度解密：从电荷存储到放电脉冲，哪些核心参数决定了半导体器件的ESD敏感度等级？未来测试技术将如何突破？

    三、测试设备与校准规范：符合GB/T4937.27-2023要求的机器模型（MM）系统应具备哪些关键性能？校准频率与方法对测试结果准确性的影响有多大？

    四、半导体器

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